[发明专利]用于检测微粒的传感器

权利要求书

1.一种用于检测微粒的传感器（10），包括传感器元件（12），其具有至少两个布置在载体衬底（16）上的测量电极（14），和保护管结构（18），其具有至少一外部保护管（20）和内部保护管（22），其中所述传感器元件（12）在纵向延伸方向（24）上布置在内部保护管（22）中，其中所述外部保护管（20）和内部保护管（22）被设计成允许微粒进入到传感器元件（12），其中，所述内部保护管（22）被设计成允许微粒在偏离纵向延伸方向（24）的方向（40）上进入到传感器元件（12），其中保持沿着传感器元件（12）的纵向延伸方向（24）流过电极，其中，所述传感器（10）还包括传感器外壳（26），其中，所述传感器元件（12）在纵向延伸方向（24）上从传感器外壳（26）伸出来，其中，所述内部保护管（22）沿着所述纵向延伸方向（24）具有不同开孔面积的开孔（60），并且其中，所述开孔面积在纵向延伸方向（24）上离开传感器外壳（26）地减小。

2.一种用于检测微粒的传感器（10），包括传感器元件（12），其具有至少两个布置在载体衬底（16）上的测量电极（14），和保护管结构（18），其具有至少一外部保护管（20）和内部保护管（22），其中所述传感器元件（12）在纵向延伸方向（24）上布置在内部保护管（22）中，其中所述外部保护管（20）和内部保护管（22）被设计成允许微粒进入到传感器元件（12），其中，所述内部保护管（22）被设计成允许微粒在偏离纵向延伸方向（24）的方向（40）上进入到传感器元件（12），其中保持沿着传感器元件（12）的纵向延伸方向（24）流过电极，其中，所述内部保护管（22）具有翻板（42），它们在传感器元件（12）的方向上突出，其中，所述传感器（10）还包括传感器外壳（26），其中，所述传感器元件（12）在纵向延伸方向（24）上从传感器外壳（26）伸出来，其中，所述翻板（42）具有不同长度，其中，所述翻板（42）的长度在纵向延伸方向（24）上离开传感器外壳（26）地增加。

3.如权利要求2所述的传感器（10），其中，所述内部保护管（22）具有开孔（44），它们邻接翻板（42）。

4.如权利要求2或3所述的传感器（10），其中，所述翻板（42）相对于纵向延伸方向（24）倾斜。

5.如权利要求2所述的传感器（10），其中，所述微粒是炭黑颗粒。

6.如权利要求2或3所述的传感器（10），其中，所述翻板（42）布置在内部保护管（22）的面对测量电极（14）的区段（58）处。

7.如权利要求2或3所述的传感器（10），还包括传感器外壳（26），其中，所述传感器元件（12）在纵向延伸方向（24）上从传感器外壳（26）伸出来，其中，所述内部保护管（22）在纵向延伸方向（24）上离开传感器外壳（26）地收缩。

8.如权利要求7所述的传感器（10），其中，所述内部保护管（22）均匀地或者不均匀地收缩。

9.如权利要求2或3所述的传感器（10），还包括中间保护管，它布置在外部保护管（20）与内部保护管（22）之间。

10.如权利要求9所述的传感器（10），其中，所述内部保护管（22）在背离传感器外壳（26）的端面（36）处与中间保护管连接。

11.如权利要求2或3所述的传感器（10），其中，所述内部保护管在横截面垂直于纵向延伸方向（24）时具有矩形的横截面形状。

12.如权利要求7所述的传感器（10），其中，所述内部保护管（22）台阶形地收缩。

13.如权利要求2或3所述的传感器（10），其中，所述内部保护管在横截面垂直于纵向延伸方向（24）时具有正方形的横截面形状。