[发明专利]纳米颗粒分析器

权利要求书

1.一种用于检测和分析个体纳米颗粒的系统，包括：

多个光源，所述多个光源包括蓝色光源、绿色光源和红色光源，其中，蓝色光源与绿色光源相比以较高的输出功率操作，绿色光源与红色光源相比以较高的输出功率操作，并所述多个光源被配置为产生不同频谱波段的多个光束，其中，所述多个光束包括具有蓝色光谱波段、绿色光谱波段和红色光谱波段的光束；

光学部件，所述光学部件被配置为将所述多个光束合并成一个或多个入射光片，每个入射光片照亮液体样本中的一个或多个纳米颗粒；以及

一个或多个图像检测器，所述一个或多个图像检测器被配置为使用多个波长检测由一个或多个纳米颗粒散射的光，所述多个波长与所述多个光束的不同频谱波段相对应。

2.如权利要求1所述的系统，还包括：

记录设备，所述记录设备被配置为在一个或多个影像中记录从所述一个或多个图像检测器获得的一系列图像。

3.如权利要求2所述的系统，还包括：

至少一个处理器，所述至少一个处理器被配置为至少执行以下操作：

基于来自所述一系列图像的至少两个图像检测并追踪所述一个或多个纳米颗粒的移动，所述至少两个图像显示所述一个或多个纳米颗粒对所述一个或多个入射光片的散射；以及

从所述一个或多个影像中确定所述一个或多个纳米颗粒的颗粒尺寸分布，所述颗粒尺寸分布包括一个或多个纳米颗粒直径的一个或多个浓度值。

4.如权利要求3所述的系统，其中所述检测以及所述追踪包括以下的一个或多个操作：

将所述一个或多个影像分为一个或多个单独的频谱分量，以生成一个或多个频谱图像并回填每个频谱图像；

从所述一个或多个影像中消除一个或多个错误特征，所述消除基于包括浓度阈值或尺寸阈值的一个或多个标准；

仅追踪存在于所述一个或多个影像的一个或多个预先选择的开始帧中的所述一个或多个纳米颗粒的子集；

消除所述一个或多个纳米颗粒的偏移运动；或

从所述一个或多个影像的所述一个或多个频谱分量中消除重复纳米颗粒追踪。

5.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述一个或多个纳米颗粒在移动。

6.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述一个或多个纳米颗粒没有在移动。

7.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，每个光束以独立可调节的功率电平输出。

8.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述光学部件包括一个或多个反射镜、波束合并器、狭缝、柱面透镜、或长工作距离物镜。

9.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述多个光束是可见光频谱的一部分。

10.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述一个或多个图像检测器包括拜耳模式滤波器，所述拜耳模式滤波器被配置为独立检测所述多个光束的不同频谱波段。

11.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述一个或多个图像检测器包括拜耳模式滤波器，所述拜耳模式滤波器被配置为产生具有独立颜色像素的一个或多个拜耳模式图像。

12.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述光学部件还包括安排在所述多个光源和所述液体样本之间的偏振片，所述偏振片被配置为将所述多个光束相对于散射面垂直偏振，以便相对从所述一个或多个入射光片传输到所述液体样本的热能使所述液体样本的照亮最优化。

13.如权利要求1-4中任一权利要求所述的系统，其中，所述一个或多个图像检测器还被配置为以所述多个波长同时检测由所述一个或多个纳米颗粒散射的光。