[发明专利]像素电路、半导体光检测装置和辐射计数装置有效
| 申请号： | 201580039336.1 | 申请日： | 2015-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106576147B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 西原利幸 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | H04N5/374 | 分类号： | H04N5/374;G01T1/20;H01L27/144;H01L27/146;H04N5/32 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 像素 电路 半导体 检测 装置 辐射 计数 | ||
【权利要求书】：
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