[发明专利]使用伽马射线密度测量法来检测流动管路沉积物的方法在审
| 申请号： | 201580039693.8 | 申请日： | 2015-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN106662436A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | R·瓦尔玛;G·J·哈顿;K·拉马纳坦 | 申请（专利权）人： | 国际壳牌研究有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 马景辉 |
| 地址： | 荷兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 使用 伽马射线 密度 测量 检测 流动 管路 沉积物 方法 | ||
1.一种测量流动管路沉积物的方法，所述方法包括：提供包括所述流动管路沉积物的管道；测量横穿所述管道的未衰减光子计数；以及分析所测得的未衰减光子计数，以确定所述流动管路沉积物的厚度。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在所述管道的第一侧生成入射光子计数以及在所述管道的第二侧检测未衰减光子计数。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，生成的所述入射光子计数是由X射线源或伽马射线源生成的。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法，其中，使用密度计以测量横穿所述管道的未衰减光子计数。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述密度计包括源和检测器阵列。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述源和所述检测器阵列呈平行射束布置或扇形射束布置。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括沿着多个弦来测量未衰减光子计数。
8.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法，其中，分析所测得的未衰减光子计数包括生成所测得的未衰减光子计数的曲线并且分析所述曲线以确定所述流动管路沉积物的厚度。
9.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法，其中，分析所测得的未衰减光子计数包括生成经校正的衰减计数的曲线并且分析所述曲线以确定所述流动管路沉积物的厚度。
10.一种测量流动管路沉积物的方法，所述方法包括：提供包括所述流动管路沉积物的管道；测量横穿所述管道的未衰减光子计数；以及计算所述流动管路沉积物的厚度。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在所述管道的第一侧生成入射光子计数以及在所述管道的第二侧检测未衰减光子计数。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，生成的所述入射光子计数是由X射线源或伽马射线源生成的。
13.根据权利要求10至12中的任一项所述的方法，其中，使用密度计以测量横穿所述管道的未衰减光子计数。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述密度计包括源和检测器阵列。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述源和所述检测器阵列呈平行射束布置或扇形射束布置。
16.根据权利要求10至15中的任一项所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括沿着多个弦来测量未衰减光子计数。
17.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法，其中，计算所述流动管路沉积物的厚度包括使用等式来计算所述厚度。
18.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在不同时间测量横贯管道的片段的未衰减光子计数。
19.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法，其中，测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括同时测量在所述管道的不同片段处的未衰减光子计数。
20.一种系统，包括：流动管路和密度计，所述流动管路包含流动管路沉积物，其中所述密度计包括呈平行射束分布或扇形射束布置的源和检测器阵列。
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