[发明专利]用于表征闪烁体材料的表征装置

权利要求书

1.一种用于表征闪烁体材料(3)的表征装置，所述表征装置(1)包括：

-第一辐射源(2)，其用于利用具有小于450nm的波长的第一辐射(4)来辐照所述闪烁体材料(3)，

-第二辐射源(5)，其用于在已经利用所述第一辐射(4)辐照了所述闪烁体材料(3)之后，利用具有大于600nm的波长并且具有等于或小于50s的脉冲持续时间的脉冲第二辐射(6)来辐照所述闪烁体材料(3)，

-探测设备(9)，其用于在由所述第二辐射(6)进行的所述辐照期间和/或之后探测来自所述闪烁体材料(3)的第三辐射(12)，以便允许基于探测到的第三辐射(12)对所述闪烁体材料(3)的表征，所述第三辐射能用作针对捕获电荷载体的阱的量的指示物。

2.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述第一辐射源(2)适于利用电离辐射来辐照所述闪烁体材料(3)。

3.根据权利要求2所述的表征装置，其中，所述第一辐射源(2)适于利用X射线和/或紫外辐射和/或伽马射线作为所述第一辐射(4)来辐照所述闪烁体材料(3)。

4.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述第一辐射源(2)适于利用非电离UV辐射或具有小于450nm的波长的可见辐射来辐照所述闪烁体材料(3)。

5.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述第二辐射源(5)适于在已经利用所述第一辐射(4)辐照了所述闪烁体材料(3)之后，首先利用具有大于600nm的第一波长的第二辐射来辐照所述闪烁体材料(3)，并且然后利用具有第二波长的第二辐射来辐照所述闪烁体材料(3)，其中，所述第二波长小于所述第一波长。

6.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述探测设备(9)适于取决于所述探测到的第三辐射(12)来生成探测信号，其中，所述表征装置(1)还包括用于对所述探测信号进行积分的计算单元(10)，以便允许基于经积分的探测信号对所述闪烁体材料(3)的表征。

7.根据权利要求1所述的表征装置，其中，当利用电离辐射被辐照时，所述闪烁体材料(3)生成具有发光波长的发光，其中，所述探测设备(9)适于探测具有所述发光波长的辐射。

8.根据权利要求7所述的表征装置，其中，所述探测设备(9)包括波长滤波器(7)和光电探测器(8)，所述波长滤波器适于允许具有所述发光波长的光(12)通过所述波长滤波器(7)，所述光电探测器(8)用于探测经滤波的光。

9.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述表征装置(1)适于使得在利用所述第一辐射(4)对所述闪烁体材料(3)的所述辐照的结束与利用所述第二辐射(6)对所述闪烁体材料(3)的所述辐照的开始之间的时间距离等于或小于500s。

10.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述表征装置(1)适于表征正电子发射断层摄影闪烁体材料(3)、单光子发射计算机断层摄影闪烁体材料(3)和/或计算机断层摄影闪烁体材料(3)。

11.根据权利要求1所述的表征装置，其中，所述表征装置(1)适于表征包括以下的闪烁体材料(3)：锗酸铋、和/或钨酸镉、和/或硅酸镥、和/或由百分之十的钇代替镥的改变的硅酸镥以及基于钆的石榴石。