[发明专利]磁场测量装置有效
申请号: | 201580041422.6 | 申请日: | 2015-07-31 |
公开(公告)号: | CN107076805B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 长尾知彦;山本道治 | 申请(专利权)人: | 爱知制钢株式会社 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本国爱知县*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁场 测量 装置 | ||
本发明提供一种即使在MI传感器的灵敏度发生了变化的情况下,也能够准确地测量磁场的磁场测量装置。磁场测量装置(1)包括MI传感器(2)和灵敏度算出单元(3)。MI传感器(2)包括感磁体(20)、检测线圈(21)以及通过通电来产生磁场的磁场产生线圈(22)。灵敏度算出单元(3)在从MI传感器(2)的外侧作用到感磁体(20)上的磁场即传感器外磁场HO为一定的状态下,使流至磁场产生线圈(22)的电流发生变化。由此,使作用在感磁体(20)上的磁场发生变化,并算出将检测线圈(21)输出电压的变化量除以作用在感磁体(20)上磁场的变化量而得到的值、即灵敏度a。
技术领域
本发明涉及具备磁阻抗传感器的磁场测量装置。
背景技术
已知使用磁阻抗传感器(以下,也记为MI传感器)的装置作为测量磁场的磁场测量装置(参照下述专利文献1)。MI传感器包括由非晶合金构成的感磁体,以及卷绕在该感磁体上的检测线圈。MI传感器构成为从所述检测线圈输出与作用在感磁体上的磁场相对应的电压。
在作用于所述感磁体的磁场比较弱的情况下,检测线圈的输出电压与磁场大致成比例。即,这种情况下,所述输出电压表现为磁场的一次函数。所述磁场测量装置将该一次函数的斜率作为灵敏度而存储。而且,构成为使用该灵敏度和检测线圈的输出电压来算出作用于感磁体上的磁场。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2005/19851号
发明内容
发明要解决的问题
然而,所述磁场测量装置具有磁场的测量精度不充分高这样的问题。即,所述磁场测量装置构成为,存储好在制造工厂等中测量到的MI传感器的灵敏度,在用户使用时,使用存储的灵敏度的值算出磁场。磁场测量装置是假定灵敏度从制造时起不发生变化而设计的。因此,并不是重新测量灵敏度的结构。然而,实际上,MI传感器的灵敏度具有随温度而变化,或是经年变化的情况。因此,存在着如果不测量并使用变化后的灵敏度的值的话,就不能准确地算出磁场这样的问题。
本发明正是鉴于这样的背景而完成的,其提供一种即使在MI传感器的灵敏度发生了变化的情况下,也能够准确地测量磁场的磁场测量装置。
解决问题的技术手段
本发明的一方式为测量磁场的磁场测量装置,其特性在于,包括:
磁阻抗传感器感以及灵敏度算出单元,
所述磁阻抗传感器感具备感磁体;检测线圈,其卷绕在该感磁体上,输出与作用在该感磁体上的磁场相对应的电压;以及磁场产生线圈,其卷绕在所述感磁体上并通过通电而产生磁场;
所述灵敏度算出单元在从该磁阻抗传感器的外侧作用至所述感磁体的磁场即传感器外磁场为一定的状态下,通过使流至所述磁场产生线圈的电流发生变化,来使作用在所述感磁体上的磁场发生变化,并算出灵敏度,所述灵敏度为将所述检测线圈输出电压的变化量除以作用在所述感磁体上磁场的变化量而得到的值。
发明的效果
在所述磁场测量装置中,在MI传感器的感磁体形成有所述磁场产生线圈。而且,设有使用该磁场产生线圈来算出所述灵敏度的灵敏度算出单元。
因此,在用户使用磁场测量装置时,能够定期地算出MI传感器的灵敏度。因此,即使在灵敏度发生了变化的情况下,也能够使用该变化后的灵敏度算出磁场。因此,能够准确地测量磁场。
如以上所述,根据本发明,能够提供即使在MI传感器的灵敏度发生了变化的情况下,也能准确地测量磁场的磁场测量装置。
附图说明
图1为实施例1中的MI传感器的俯视图。
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