[发明专利]具有方形圆形状的数字平板检测器有效
申请号: | 201580047487.1 | 申请日: | 2015-09-02 |
公开(公告)号: | CN106793984B | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | J.刘 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01T1/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶培勇;刘春元 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 方形 圆形 数字 平板 检测器 | ||
相关申请的交叉引用
本申请要求2014年9月5日提交的美国专利申请号14/478655的优先权,通过引用将其整体结合到本文中。
技术领域
本申请一般涉及用于得到和显示X射线图像的系统和方法。具体来说,本申请涉及用于使用具有方形圆(squircle)形状的数字平板检测器来生成X射线图像的系统和方法。
背景技术
典型X射线成像系统包括X射线源和X射线检测器。从X射线源所发射的X射线能够照射到X射线检测器,并且提供放置在X射线源与X射线检测器之间的(一个或多个)对象的X射线图像。在一种类型的X射线成像系统、荧光成像系统中,X射线检测器常常是图像增强器或者更新近一些是平板数字检测器。平板检测器包含闪烁器材料层,闪烁器材料层将x射线转换为光。在闪烁器层后面是包含设置为栅格状的多个像素的检测器阵列。各像素包含光电二极管,光电二极管生成与来自像素前面的闪烁器层的光成比例的电信号。来自光电二极管的信号由电子器件来放大,以产生位于X射线源与X射线检测器之间的对象的x射线图像的数字表示。
发明内容
本申请涉及用于使用具有方形圆形状的数字平板检测器来生成X射线图像的系统和方法。平板X射线检测器包含电路板、电连接到电路板的光成像器(例如CMOS晶圆)以及光成像器上的闪烁器。检测器具有超椭圆(superellipse)形状或无角(cornerless)形状,所述超椭圆形状或无角形状第一基本直边缘以及与第一边缘基本上垂直地延伸的第二基本直边缘,其中第一边缘和第二边缘没有在物理上以90度彼此相交。具有这种形状的平板检测器能够用于x射线成像系统中,该x射线成像系统使用检测器来检测x射线并且产生x射线图像。采用这个形状,检测器的有效感测区能够与当前采用矩形或正方形平板检测器而可获得的那些有效感测区相似,同时使用较少材料来制造检测器。
附图说明
以下描述能够根据附图来更好地了解,其中:
图1示出方形圆平板检测器的一些实施例的侧视图;
图2示出方形圆平板检测器的光成像器的一些实施例的顶视图;
图3示出方形圆平板检测器的其他实施例的侧视图;
图4示出方形圆平板检测器的光成像器的其他实施例的顶视图;
图5-12示出方形圆平板检测器的形状的一些示例;
图13示出包含方形圆平板检测器的x射线成像系统的一些实施例;
图14示出包含方形圆平板检测器的x射线成像系统的其他实施例;
图15示出由方形圆平板检测器所产生的x射线图像的一些实施例;以及
图16示出方形圆形状能够节省基于CMOS的平板检测器的晶圆的实施例。
附图示出用于使用具有方形圆形状的数字平板检测器来生成X射线图像的系统和方法的具体方面。连同以下描述,附图示范和解释本文所述结构、方法和原理的原理。附图中,为了清楚起见而可能夸大或者以其他方式修改组件的厚度和大小。不同附图中的相同参考标号表示相同要素,并且因而将不重复其描述。此外,没有详细示出或描述众所周知的结构、材料或操作,以免影响对所述装置的方面的理解。此外,为了清楚起见,附图可示出简化的或部分视图,以及附图中的要素的尺寸可能被放大或者不按比例。
具体实施方式
以下描述提供具体细节,以便提供透彻了解。然而,技术人员会理解,即使没有采用这些具体细节也能够实现和使用用于得到和显示准直X射线图像的所述系统和方法。实际上,所述系统和方法能够通过修改所示装置和方法来付诸实践,并且能够与工业中按常规使用的任何其他设备和技术结合使用。例如,虽然以下描述集中于用于显示X射线图像(其使用近实时地得到X射线图像的荧光X射线装置来制造)的系统和方法,但是所述系统和方法(或者其部分)能够与任何其他适当装置或技术配合使用。例如,所述系统和方法(或者其部分)可与产生传统普通X射线图像的X射线装置一起使用。
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