[发明专利]图像传感器有效
申请号: | 201580050442.X | 申请日: | 2015-09-10 |
公开(公告)号: | CN107078142B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | G·P·麦克尼格特;J·J·瓦乔;J·A·格雷茨 | 申请(专利权)人: | 微软技术许可有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 | ||
1.一种用于产生弯曲的图像传感器芯片的方法,包括:
在图像传感器芯片的第一表面上放置衬底,其中所述图像传感器芯片的所述第一表面与所述图像传感器芯片的第二表面相对,以及其中所述图像传感器芯片的所述第二表面包括被配置为响应于接收光而产生电信号的光传感器;以及
增加所述衬底的体积至少直到通过增加所述衬底的体积而产生的弯曲力被施加到所述图像传感器芯片,从而产生所述弯曲的图像传感器芯片。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述弯曲的图像传感器芯片的所述第二表面具有内凹球面形状或非球面形状。
3.根据权利要求1所述的方法,其中在所述图像传感器芯片的所述第一表面上放置所述衬底包括:
使用界面层将所述图像传感器芯片的所述第一表面耦合到所述衬底。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述衬底包括金属合金,以及其中增加所述衬底的体积包括:
将所述衬底暴露至氢以允许所述衬底吸收所述氢。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述衬底包括金属合金,以及其中增加所述衬底的体积包括:
将电流施加至所述衬底的至少一部分以执行氧化反应。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述金属合金包括铝或钛。
7.根据权利要求1所述的方法,其中增加所述衬底的体积包括:
将所述衬底暴露至锂化处理中的锂基化学品。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述衬底包括聚合物或弹性体,以及其中增加所述衬底的体积包括:
将所述衬底暴露至水合处理或溶剂化处理中的一个或多个化学品。
9.根据权利要求1所述的方法,其中增加所述衬底的体积包括:
将受控的温度、压力或电压施加至所述衬底的特定部分。
10.根据权利要求1所述的方法,其中在增加所述衬底的体积之前,所述衬底具有第一厚度分布,以及其中在增加所述衬底的体积之后,所述衬底具有不同于所述第一厚度分布的第二厚度分布。
11.根据权利要求1所述的方法,还包括:
与所述图像传感器的所述第二表面相邻地放置成形模具。
12.根据权利要求1所述的方法,其中增加所述衬底的体积包括使所述衬底膨胀。
13.根据权利要求1所述的方法,还包括:
将膨胀剂引入所述衬底,所述膨胀剂被配置为被吸收至所述衬底的至少一部分中。
14.根据权利要求1所述的方法,其中增加所述体积包括将膨胀剂插入至所述衬底的至少一部分中。
15.一种图像传感器设备,包括:
弯曲的图像传感器芯片,其具有第一侧以及与所述第一侧相对的第二侧,其中所述第二侧包括被配置为响应于接收光而产生电信号的一个或多个光传感器;以及
体积变化衬底,其与所述弯曲的图像传感器芯片的所述第一侧接触,所述体积变化衬底的体积已增加,以便施加弯曲力来形成所述弯曲的图像传感器芯片。
16.根据权利要求15所述的设备,其中所述弯曲的图像传感器芯片的所述第二侧包括内凹球面形状或非球面形状。
17.根据权利要求15所述的设备,其中所述体积变化衬底包括氢化金属。
18.根据权利要求17所述的设备,其中所述氢化金属包括氢化钛或氢化钒。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的