[发明专利]吸音结构及隔音室有效
申请号: | 201580050813.4 | 申请日: | 2015-06-19 |
公开(公告)号: | CN106716520B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 玄晴夫 | 申请(专利权)人: | 大和房屋工业株式会社 |
主分类号: | G10K11/16 | 分类号: | G10K11/16;E04B1/86;E04B1/99 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;金玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 吸音 结构 隔音 | ||
1.一种作为音频室的隔音室,其具备:
后方面部件,其构成该隔音室的侧壁、底板及顶棚中的至少任意一个,且在规定方向上具有长度;
前方面部件,其与所述后方面部件平行且从所述后方面部件向前方分开而配置,沿着所述规定方向的长度比所述后方面部件短;
吸音材料,其配置于所述后方面部件的前方;及
开口部,其与所述前方面部件在所述规定方向上相邻,且仅在所述隔音室的侧壁、底板或顶棚的所述规定方向的端部进行配置,
所述吸音材料设置于如下两个区域:位于所述开口部的背后的第1区域及被所述前方面部件与所述后方面部件所夹的第2区域,
所述吸音材料在所述第1区域的部分中吸收高音域声音,在所述第2区域的部分中吸收低音域声音,
所述规定方向上的所述第2区域的长度尺寸比所述规定方向上的所述第1区域的长度尺寸长,在将所述第1区域的长度尺寸设为1的情况下,所述第2区域的长度尺寸为2以上,
该隔音室还具备低音音频可变机构,该低音音频可变机构配置在所述第1区域与所述第2区域之间的边界位置处,用于通过调整入射到从所述开口部露出的所述第1区域的声音中的、从所述第1区域朝向所述第2区域内的声音的通路的开口面积,使低音域的音频可变,
所述低音音频可变机构包括分隔部件,该分隔部件设置在所述第1区域与所述第2区域之间的边界位置处,以分割所述吸音材料。
2.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
所述规定方向上的所述第2区域的长度尺寸比所述第1区域的纵深尺寸长。
3.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
所述第1区域的长度尺寸是0.5模。
4.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
所述分隔部件从所述开口部的所述前方面部件侧的端部以分割所述吸音材料的方式插拔。
5.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
所述分隔部件由板状部件形成,该板状部件以相对于所述规定方向的角度可变的方式设置,
在所述第2区域中设有空洞部,该空洞部用于实现所述板状部件的旋转。
6.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
所述吸音材料从所述第1区域延伸至所述第2区域。
7.根据权利要求1所述的隔音室,其中,
该隔音室还具备音频可变机构,该音频可变机构用于通过调整从所述开口部露出的吸音面的露出面积而使音频可变。
8.一种作为音频室的隔音室,其具备:
后方面部件,其在规定方向上具有长度;
前方面部件,其与所述后方面部件平行且从所述后方面部件向前方分开而配置,该前方面部件与所述后方面部件一起构成该隔音室的侧壁、底板及顶棚中的至少任意一个;及
吸音材料,其配置于所述后方面部件的前方,
所述前方面部件在所述规定方向的端部具有开口部,
所述吸音材料设置于如下两个区域:位于所述开口部的背后的第1区域及位于所述前方面部件的除了所述开口部之外的反射壁部的背后的第2区域,
所述吸音材料在所述第1区域的部分中吸收高音域声音,在所述第2区域的部分中吸收低音域声音,
所述规定方向上的所述第2区域的长度尺寸比所述规定方向上的所述第1区域的长度尺寸长,在将所述第1区域的长度尺寸设为1的情况下,所述第2区域的长度尺寸为2以上,
该隔音室还具备低音音频可变机构,该低音音频可变机构配置在所述第1区域与所述第2区域之间的边界位置处,用于通过调整入射到从所述开口部露出的所述第1区域的声音中的、从所述第1区域朝向所述第2区域内的声音的通路的开口面积,使低音域的音频可变,
所述低音音频可变机构包括分隔部件,该分隔部件设置在所述第1区域与所述第2区域之间的边界位置处,以分割所述吸音材料。
9.根据权利要求8所述的隔音室,其中,
所述规定方向上的所述第2区域的长度尺寸比所述第1区域的纵深尺寸长。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大和房屋工业株式会社,未经大和房屋工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580050813.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:排队系统
- 下一篇:基于统计的裸芯性能被延迟直到封装之后的非易失性存储器测试