[发明专利]针对使用质谱法和光谱法的分子分析的方法和设备

权利要求书

1.一种分析分子的方法，所述方法包含：

由待分析的分子样品产生离子；

在低于环境温度下冷却所产生的所述离子；通过在一或多个预定谱间隔内用多个不同波长(λ)下的光辐射所述离子而使冷却后的所述离子中的至少一些碎片化，在所述多个不同波长内扫描光的所述波长；

当扫描光的所述波长时并行记录多个碎片化离子的碎片质谱，其包含在m/z值的预定范围内针对所述多个不同波长(λ)中的每一个的检测信号(I)与m/z的关系，由此记录所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的二维光谱；及

通过数学分析所记录的所述二维光谱中所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)两者之间的二维相关性，由所记录的所述二维光谱测定所产生的所述离子中的至少一个的特性和/或不同的所产生的离子的相对丰度，并由此测定所述分子中的至少一个的特性和/或所述样品中的不同分子的相对丰度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述测定包含将所记录的所述检测信号(I)的二维光谱与由已知分子的碎片化离子获取的检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的二维相关性的库进行比较，以鉴别和/或测定所述样品中的不同分子的相对丰度。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所记录的所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的所述光谱由此形成三维数据阵列，并且所述测定步骤包含将所述三维数据阵列数学分解成向量对，其中每一对表示所述样品中的不同分子，并且每一对的一个向量对应于所述分子的I与λ光谱，而每一对的另一个向量对应于所述分子的I与m/z光谱。

4.根据权利要求3所述的方法，其进一步包含将所述向量对中的一或多个与已针对一或多个候选分子结构计算的一或多个所计算的向量对进行比较，并根据向量对的所述比较选择候选分子结构作为所述样品中的所述分子的最可能结构。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所记录的所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的所述光谱由此形成三维数据阵列，并且所述测定步骤包含数学分析所述数据阵列的以下方法中的任一个：

在由已知分子的碎片化离子的库获取的矩阵的线性组合中分解所述数据阵列，以鉴别和/或测定所述样品中的不同分子的相对丰度；

将所述数据阵列分解成一组系数及相应向量对，其中每一系数和相应向量对表示不同分子实体；其中每一对的一个向量对应于I与λ光谱，每一对的另一个向量对应于I与m/z光谱，而所述系数对应于所述实体的相对丰度。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述测定进一步包含将一或多个I与λ光谱和/或I与m/z光谱与已针对一或多个候选分子结构计算的一或多个所计算的光谱进行比较，以发现相应分子实体的最可能结构。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述分子样品包含同时进行分析的一或多个分子实体，其包括不同异构体。

8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述分子样品包含同时进行分析的一或多个分子实体，其包括不同的构象异构体。

9.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中测定离子的特性包含任何数目的以下鉴别：

离子的化学式的鉴别；

离子的官能团的鉴别；

离子的结构式的鉴别；

离子的三维(3D)结构的鉴别。

10.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述样品包含分子的不同异构体，并且测定由所述不同异构体产生的所述离子中的至少一个的特性包含以下：

所述离子的最多异构体的数目的鉴别；

所述离子的最多异构体中的每一个的特性的测定。