[发明专利]天线测试装置和测试方法有效
| 申请号： | 201580058240.X | 申请日： | 2015-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN107076788B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | M·戈特尔;K-A·施泰因豪泽 | 申请（专利权）人： | 瑞典爱立信有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 李宓;陈静 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 天线 测试 装置 方法 | ||
1.一种用于测量被测天线(220)的测量装置(210)，包括：
用于支撑被测天线(220)的可移动支架(230)；
具有多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的馈送天线(240)，其中所述可移动支架(230)位于与所述馈送天线(240)相距预定距离(d)处；以及
天线馈送系统(260)，其具有多个调节部件，用于调节来自所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的波前(245)的相位和振幅，使得在所述距离(d)处形成其中波前基本上是平面的安静区域；所述可移动支架(230)放置于所述安静区域中；
所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)包括至少一对辐射振子，用于产生两个正交极化分量；
其中，所述天线馈送系统(260)具有连接到所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的多个衰减器或增益元件(267-1，267-2，……，267-N)，用于调节来自所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的波前(245)的振幅；
由所述多个衰减器或增益元件(267-1，267-2，……，267-N)设置的功率分布调节成使得，在馈送天线(240)的中心部分中的多个辐射振子的功率基本恒定，以及在馈送天线(240)的边缘处的辐射振子的功率减小；
其中，所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的个数为15个至30个。
2.根据权利要求1所述的测量装置(210)，其特征在于，所述可移动支架(230)能够围绕至少一个轴(232，234)旋转。
3.根据权利要求2所述的测量装置(210)，其特征在于，所述至少一个轴(232，234)是垂直轴(232)或水平轴(234)中之一。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的测量装置(210)，其特征在于，所述天线馈送系统(260)具有连接到所述辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的多个相位元件或延迟元件(265-1，265-2，……，265-N)中的至少一个，用于调节来自所述多个辐射振子(250-1，250-2，……，250-N)的所述波前(45)的相位。
5.根据权利要求4所述的测量装置(210)，其特征在于，由所述多个相位元件或延迟元件(265-1，265-2，……，265-N)设置的延迟分布调节成使得至少在馈送天线(240)的中心部分中基本上没有延迟，以及可选地在馈送天线(240)的边缘处具有小的延迟。
6.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(210)，其特征在于，所述多个辐射振子以线性阵列布置。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(210)，其特征在于，所述多个辐射振子以二维阵列布置。
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