[发明专利]用于优化信号孔隙度的通孔结构在审

专利信息
申请号: 201580058627.5 申请日: 2015-10-05
公开(公告)号: CN107148670A 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: X·孟;J·H·郑;Y·C·潘 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L23/528
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 杨丽,李小芳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 优化 信号 孔隙 结构
【说明书】:

一种包括导电栈结构的装置,包括在Mx层上并且在第一迹线上的在第一方向上延伸的Mx层互连、在My层上的My层互连(其中My层是比Mx层低的层)、耦合在Mx层互连与My层互连之间的第一通孔栈、耦合在Mx层互连与My层互连之间的第二通孔栈、在紧邻第一迹线的一迹线上的在第一方向上延伸的第二Mx层互连、以及在紧邻第一迹线的一迹线上的在第一方向上延伸的第三Mx层互连。该Mx层互连在第二Mx层互连与第三Mx层互连之间。第二Mx层互连和第三Mx层互连彼此解耦。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2014年10月30日提交的题为“via structure for optimizingsignal porosity(用于优化信号孔隙度的通孔结构)”的美国临时申请S/N.62/072,966以及于2015年6月19日提交的题为“via structure for optimizing signal porosity(用于优化信号孔隙度的通孔结构)”的美国专利申请No.14/744,634的权益,这两篇申请通过援引被整体明确纳入于此。

技术领域

本公开一般涉及布局构造,并且尤其涉及用于优化信号孔隙度的通孔结构。

背景技术

标准单元是可以用数字逻辑来实现的集成电路。专用集成电路(ASIC)(诸如片上系统(SoC)器件)可包含数千至数百万的标准单元。减小ASIC的大小/面积占用台面是有益的。改善信号孔隙度/可布线性可允许ASIC的大小/面积占用台面被减小。相应地,存在对改善信号孔隙度/可布线性的需要。

发明内容

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