[发明专利]不使用光学阻挡滤光器从样品光谱中去除照射能量的光谱分量的方法以及用于其的装置在审
申请号: | 201580061125.8 | 申请日: | 2015-09-11 |
公开(公告)号: | CN107209060A | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | 亚伯拉罕·施瓦茨;马丁·C·科恩;彼得·英格拉姆 | 申请(专利权)人: | 定量细胞中心 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 蔡胜有,苏虹 |
地址: | 美国波*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 光学 阻挡 滤光 样品 光谱 去除 照射 能量 分量 方法 以及 用于 装置 | ||
1.一种不使用光学阻挡滤光器而从样品光谱中去除照射能量的光谱分量的方法,所述方法包括:
在向参比室和空的样品室同时提供照射能量时,从所述参比室以及从所述空的样品室获得第一组照射光谱;
确定来自所述参比室的照射光谱与来自所述空的样品室的照射光谱之间在照射波长范围内的各个波长下的强度差;
在向所述参比室和所述样品室同时提供照射能量时,从所述参比室和所述样品室获得第二组光谱,其中来自所述参比室的光谱仅包含照射光谱分量,而来自所述样品室的光谱包含照射光谱分量和样品光谱分量二者;
通过如下方式在所述照射波长范围内调节所述第二组光谱的来自所述参比室的照射光谱的强度:将所述第二组光谱的来自所述参比室的所述照射光谱波长的强度减去或加上先前确定的在各个相应波长下的强度差以使来自所述两室的照射强度在所述照射波长范围内相等;以及
从所述第二组光谱的来自所述样品室的包含照射分量和样品分量二者的光谱中减去所述第二组光谱的所述经调节的照射光谱,有效地从样品光谱中去除照射能量的光谱分量。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述样品位于所述样品室内部。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述样品位于所述样品室外部,从所述样品的表面反射的能量被导入所述样品室中。
4.一种不使用光学阻挡滤光器而从样品光谱中去除照射能量的光谱分量的方法,所述方法包括:
在样品室为空的情况下向参比室和所述样品室同时提供照射能量时,将从所述参比室和所述样品室输出的能量导向衍射光栅,所述衍射光栅将所接收的能量衍射到CCD芯片上以产生第一组照射光谱;
由所述第一组照射光谱确定来自所述参比室的照射光谱与来自所述空的样品室的照射光谱之间在照射波长范围内的各个波长下的强度差;
在向所述参比室和所述样品室同时提供照射能量时,将从所述参比室和所述样品室输出的能量导向所述衍射光栅,所述衍射光栅将所接收的能量衍射到CCD芯片上以产生第二组照射光谱,来自所述参比室的光谱仅包含照射光谱分量,来自所述样品室的光谱包含照射光谱分量和样品光谱分量二者;
通过如下方式在所述照射波长范围内调节所述第二组光谱的来自所述参比室的照射光谱的强度:将所述第二组光谱的来自所述参比室的所述照射光谱波长的强度减去或加上先前确定的在各个相应波长下的强度差以使来自所述两室的照射强度在所述照射波长范围内相等;以及
从所述第二组光谱的来自所述样品室的包含照射分量和样品分量二者的光谱中减去所述第二组光谱的所述经调节的照射光谱,有效地从样品光谱中去除照射能量的光谱分量。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述样品位于所述样品室内部。
6.根据权利要求4所述的方法,其中所述样品位于所述样品室外部,而从所述样品的表面反射的能量被导入所述样品室。
7.一种组合光谱仪,包括:
参比室和样品室;
衍射光栅,其配置成接收从所述参比室和所述样品室引导的能量并且将所述能量衍射成对应于所述参比室的能量的第一组光谱分量和对应于所述样品室的能量的第二组光谱分量;以及
电荷耦合装置(CCD),所述电荷耦合装置(CCD)将第一组经衍射的光谱分量和第二组经衍射的光谱分量分别接收到所述电荷耦合装置(CCD)的不同区域上。
8.根据权利要求7所述的组合光谱仪,其中所述参比室和所述样品室中的每一者均包括能量输入口和能量输出口。
9.根据权利要求7所述的组合光谱仪,其中所述参比室和所述样品室具有相同的尺寸和反射特性。
10.根据权利要求8所述的组合光谱仪,其中所述能量输出口包括可调节的狭缝。
11.根据权利要求7所述的组合光谱仪,其中所述样品室包括样品保持件。
12.一种与光谱仪一起使用以在不使用光学阻挡滤光器的情况下从样品光谱中去除照射能量的光谱分量的装置,所述装置包括:
参比室和样品室,其配置成耦接至光谱仪用以将来自各个室的输出能量同时导至光谱仪的衍射光栅上。
13.根据权利要求12所述的组合光谱仪,其中所述参比室和所述样品室中的每一者均包括能量输入口和能量输出口。
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