[发明专利]用于测试分选机的测试托盘及用于测试机的接口板

权利要求书

1.一种用于测试分选机的测试托盘，包括：

插入件，具有半导体元件被放置于上的放置空间；及

安装框架，所述插入件被安装至所述安装框架，以能够移动，

其中所述插入件包括：

本体，具有所述放置空间；

支撑部件，与所述本体一体成形或结合到所述本体，以支撑放置于所述放置空间的半导体元件；及

保持器，用于固定半导体元件，以防止放置于所述放置空间的半导体元件分离，且

其中所述本体包括：第一校正孔和第二校正孔，所述第一校正孔设置在测试分选机的接口板，并且与测试插座结合的插座引导件的第一校正销能够被插入至所述第一校正孔；并且所述插座引导件的第二校正销能够被插入至所述第二校正孔，

所述插座引导件具有对准销，以能够精确地建立所述测试插座和所述插座引导件的位置，并且所述测试插座具有插入所述对准销的对准孔，

其中，当所述插入件接近配备于所述接口板的测试插座时，所述第一校正销首先插入所述第一校正孔中且所述第二校正销其次插入所述第二校正孔，使得所述插入件的位置借由所述第一校正孔与所述第一校正销的作用而被首先校正，且借由所述第二校正孔和所述第二校正销的作用而被其次地精确地校正。

2.如权利要求1所述的用于测试分选机的测试托盘，其中在所述第一校正销被插入至所述第一校正孔中之后，所述第二校正销被插入至所述第二校正孔中，因为所述第一校正销的一突出部分较所述第二校正销的突出部分高。

3.如权利要求1所述的用于测试分选机的测试托盘，其中所述第二校正孔系在一侧方向上延伸的一长孔形态。

4.如权利要求3所述的用于测试分选机的测试托盘，其中所述第二校正孔系在直线的方向更长的长孔形态，所述直线通过所述第二校正孔的中心和所述插入件的中心。

5.一种用于测试机的接口板，包括：

测试插座，所述测试插座与在测试托盘的插入件中的半导体元件电连接；

插座引导件，用于校正所述插入件的位置，以将所述测试插座与所述半导体元件电连接；及

安装板，所述测试插座和所述插座引导件被结合而安装于所述安装板上，

其中所述插座引导件包括：

第一校正销，所述第一校正销被插入至形成在所述插入件的一第一校正孔中，以首先校正所述插入件的位置；及

第二校正销，被插入至形成在所述插入件中的第二校正孔中，以其次地校正所述插入件的位置，

所述插座引导件具有对准销，以能够精确地建立所述测试插座和所述插座引导件的位置，并且所述测试插座具有插入所述对准销的对准孔，

其中，当所述插入件接近所述测试插座时，所述第一校正销被首先插入至所述第一校正孔中而使所述插入件的位置被首先校正，且接着所述第二校正销被其次地插入至所述第二校正孔中，而使所述插入件的位置被其次地精确地校正。

6.如权利要求5所述的用于测试机的接口板，其中在所述第一校正销被插入至所述第一校正孔中之后，所述第二校正销被插入至所述第二校正孔中，因为所述第一校正销的突出部分较所述第二校正销的突出部分高。

7.如权利要求5所述的用于测试机的接口板，其中所述第二校正销和所述对准销被配备于相同轴。

8.如权利要求5所述的用于测试机的接口板，其中所述第二校正销具有一侧方向长的椭圆形形状。