[发明专利]用于诸如多模式光纤几何测量的光纤测量的装置、系统和方法

权利要求书

1.一种用于测试光纤的方法，包括：

利用光纤测试仪器测量光纤在围绕其光轴的旋转的多个旋转角度处的特性，以通过所述测量产生表示在所述多个旋转角度处测得的所述特性的值的多个数据点；

形成使所述特性作为第一可变参数并且包括作为第二可变参数的关于所述光纤测试仪器的量的光纤模型，

通过所述光纤模型产生在特性的预期测得值、所述旋转角度、所述第一可变参数与所述第二可变参数之间的函数关系；

根据一个或多个预定的标准使所述第一可变参数和所述第二可变参数变化以将所述函数关系与所述数据点拟合；

基于拟合确定所述特性的值，

其中，所述方法进一步包括切割所述光纤以产生切割端部表面，其中关于所述光纤测试仪器的量包括取决于所述切割端部表面和所述光纤的光轴之间的角度的量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述第一可变参数和第二可变参数变化以将所述函数关系与所述数据点拟合包括最小化所述函数关系与所述数据点之间的差的数学范数。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，最小化数学范数包括进行所述函数关系与所述数据点的最小二乘拟合。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，测量光纤的特性包括测量光纤芯部直径或非圆度、光纤包覆层直径或非圆度、或者芯部-包覆层同心度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，关于所述光纤测试仪器的量进一步包括取决于所述光纤和所述光纤测试仪器之间的角度对准的量。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，测量光纤的特性包括测量光纤芯部直径或非圆度、光纤包覆层直径或非圆度、或者芯部-包覆层同心度。

7.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，测量光纤的特性包括从所述光纤内照射所述切割端部表面并形成所述切割端部表面的图像。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，形成所述切割端部表面的图像包括利用传输近场显微镜。

9.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，确定所述特性的值包括如果所述特性的测得值随角度旋转的变化包含以比所述旋转角度短的周期变化的分量，则确定所述特性的值是非零的。