[发明专利]基于像素的死时间校正

权利要求书

1.一种正电子发射断层摄影(PET)系统，包括：

多个辐射探测器(20)，其被配置为探测定义响应线(LOR)的符合辐射事件对，所述符合辐射事件对是从成像区域发出的，并且由所述辐射探测器的探测器像素探测到；以及

至少一个处理器，其被配置为：

令所述辐射探测器采集包括由所述探测器像素探测到的单事件的列表模式数据；并且

计算由探测器像素的对定义的每条LOR的死时间校正因子，

其中，计算每条LOR的所述死时间校正因子包括：

根据所述列表模式数据确定每条LOR的随机率；

根据所确定的随机率确定每个探测器像素的单一率；并且

分别基于探测器像素i和j的所述单一率S_i和S_j来计算由所述探测器像素i和j定义的所述LOR的活时间因子LT_ij 。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，确定每个探测器像素的单一率的操作包括求解方程组R_ij∝S_i*S_j，其中，R_ij是由探测器像素i和j定义的LOR的所确定的随机率；符号“∝”指代比例关系；并且S_i和S_j分别是探测器像素i和j的未知单一率。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，求解所述方程组R_ij∝S_i*S_j包括所述至少一个处理器还被配置为：

生成每个探测器像素的所述单一率的直方图映射，其中，直方图包括缩放因子。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，计算所述死时间校正因子包括所述至少一个处理器还被配置为：

使用根据所述活时间因子计算所述死时间校正因子，其中，DT_ij是从i到j的每条LOR的所述死时间校正因子。

5.一种用于计算正电子发射断层摄影(PET)扫描器中的每个探测器像素的死时间校正因子的方法，所述方法包括：

使用PET辐射探测器探测从成像区域发出的多个511keV辐射事件；并且

使用电子数据处理设备计算由所述PET辐射探测器的探测器像素的对定义的每条响应线(LOR)的死时间校正因子；

其中，计算所述死时间校正因子包括：

确定每条LOR的随机率；

根据所确定的随机率确定所述PET辐射探测器的每个探测器像素的单一率；并且

分别基于探测器像素i和j的所述单一率S_i和S_j来计算由所述探测器像素i和j定义的所述LOR的活时间因子LT_ij。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，确定每个探测器像素的单一率的操作包括求解方程组R_ij＝2τS_i*S_j，其中，R_ij是由探测器像素i和j定义的所述LOR的所确定的随机率；τ是符合窗口宽度；并且S_i和S_j分别是探测器像素i和j的未知单一率。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，求解所述方程组R_ij＝2τS_i*S_j还包括：

生成每个探测器像素的所述单一率的直方图映射，其中，直方图包括缩放因子。

8.根据权利要求5所述的方法，其中，计算所述死时间校正因子包括：

使用根据所述活时间因子LT_ij计算所述死时间校正因子，其中，DT_ij是i与j之间的每条LOR的所述死时间校正因子。