[发明专利]压力不敏感的干涉仪有效

专利信息
申请号: 201580068955.3 申请日: 2015-12-03
公开(公告)号: CN107407549B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: W.沃马克 申请(专利权)人: PGS地球物理公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 方世栋;郑冀之
地址: 挪威*** 国省代码: 挪威;NO
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摘要:
搜索关键词: 光波导 衬底 光信号耦合 反射元件 耦合元件 反射 配置
【权利要求书】:

1.一种设备,包括:

衬底;

被布置在所述衬底上的第一光波导;

被布置在所述衬底上的第二光波导;

被布置在所述衬底上的耦合元件,所述耦合元件被配置为:

将所述第一光波导中的光信号耦合至所述第二光波导;以及

将所述第二光波导中的光信号耦合至所述第一光波导;

被布置在所述第一光波导的端部处的第一反射元件,其被配置为反射所述第一光波导中的光信号;

被布置在所述第二光波导的端部处的第二反射元件,其被配置为反射所述第二光波导中的信号;以及

被布置在所述衬底上的延迟元件,所述延迟元件被布置在所述第一光波导内,其中,基于作用于数据的角度调制的调制深度来提供延迟,所述数据在所述第一光波导内的光信号上被角度调制。

2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一和第二反射元件中的每一个选自由下列构成的组:

反射镜;

法拉第旋转镜;

反射光栅;

相位共轭器;以及

被放置在所述第一光波导和所述第二光波导中的相应的一个的端部上的反射材料。

3.根据权利要求1或2所述的设备,其中,所述设备进一步包括:

第一臂,所述第一臂包括被布置在所述耦合元件和所述第一反射元件之间的所述第一光波导的一部分;以及

第二臂,所述第二臂包括被布置在所述耦合元件和所述第二反射元件之间的所述第二光波导的一部分;以及

其中所述第一臂的长度和所述第二臂的长度是不相等的。

4.根据权利要求3所述的设备,其中,所述设备被配置为在没有大气罩的情况下部署在水体中。

5.根据权利要求4所述的设备,其中,所述衬底选自由下列构成的组:

印刷电路板材料;

塑料;

陶瓷;

玻璃;以及

硅。

6.一种方法,包括:

将来自光源的光能耦合至接近水体下方的海底部署的传感器线缆;

将所述传感器线缆中的所述光能的一部分耦合至被部署在所述水体下方的干涉测量设备的第一光波导的分段中,其中所述干涉测量设备被配置为在没有大气罩的情况下部署在所述水体中;

在所述第一和第二光波导之间耦合光能;

检测来自所述干涉测量设备的第二光波导的分段的光学干涉测量信号;以及

基于作用于数据的角度调制的调制深度使所述第一光波导和第二光波导中的一个的臂中的光学信号延迟一个延迟量,所述数据在所述光信号上被角度调制。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述干涉测量设备包括根据权利要求5所述的设备。

8.根据权利要求6所述的方法,其中所述干涉测量设备包括根据权利要求1所述的设备。

9. 根据权利要求7所述的方法,进一步包括:

通过在所述第一光波导的端部处的反射元件反射所述第一光波导中的光能;以及

通过在所述第二光波导的端部处的反射元件反射所述第二光波导中的光能。

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