[发明专利]基于对统计指标的同时分析制造部件的方法

权利要求书

1.一种基于对多个表示部件的特征尺寸的不同的统计指标的同时分析来制造所述部件的方法，所述部件由制造装置生产，其中，

每个统计指标是根据测量的多个部件的特征尺寸的平均值μ和标准偏差σ计算的，每个统计指标与第一参考值以及大于所述第一参考值的第二参考值相关联，定义为：

验证集，包括其中所述统计指标大于或等于所述第二参考值的对(μ；σ)；

制裁集，包括其中所述统计指标小于或等于所述第一参考值的对(μ；σ)；以及

控制集，包括其中所述统计指标介于所述第一参考值和所述第二参考值之间的对(μ；σ)；

定义了以下集合：

总验证集，对应于每个统计指标的不同验证集的集合相关的组合；

总制裁集，对应于每个统计指标的不同制裁集的集合相关的组合；

总控制集，包括没有包含在所述总验证集和所述总制裁集中的对(μ；σ)；

从所述制造装置生产的部件中提取包含多个部件的样品，测量所述样品中的每个部件的特征尺寸，并为所提取的样品计算所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m；

确定包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对属于所述总验证集、所述总制裁集和所述总控制集中的哪一个总集合，并且根据以这种方式确定的总集合进行所述制造。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述确定包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对所属的总集合是在视觉上完成的，其中：

所述包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对表示在调节图形(μ；σ)上，所述调节图形(μ；σ)具有作为横坐标的平均值μ和作为纵坐标的表示尺寸的标准偏差σ，在所述调节图形上显示了：

图形验证区，包括所述总验证集的对(μ；σ)；

图形制裁区，包括所述总制裁集的对(μ；σ)；

图形控制区，包括所述总控制集的对(μ；σ)；

根据所述对所在的图形区域确定总相关集。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，在不同时刻提取多个样品，包含有为所述样品测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的不同对根据所提取的样品的时间而变化，该不同对在所述调节图形(μ；σ)上表示。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述调节图形(μ；σ)显示在监控器上。

5.根据权利要求1-3任一所述的方法，其中，所述总验证集对应于每个统计指标的不同的验证集的交集，以及所述总制裁集对应于每个统计指标的不同的制裁集的并集。

6.根据权利要求1-3任一所述的方法，其中，所述总验证集对应于每个统计指标的不同验证集的并集，以及所述总制裁集对应于每个统计指标的不同制裁集的交集。

7.根据权利要求1-3任一所述的方法，其中，分析分别称为第一统计指标、第二统计指标和第三统计指标的三个不同的统计指标，其中，

所述总验证集对应于所述第一统计指标的验证集与所述第二统计指标的验证集和所述第三统计指标的验证集之间的交集的并集；以及

所述总制裁集对应于所述第一统计指标的验证集与所述第二统计指标的验证集和所述第三统计指标的验证集的并集之间的交集。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，

所述第一统计指标是由下式定义的第一能力指标Cpk：

所述第二统计指标是由下式定义的第二能力指标Cp：

所述第三统计指标是由下式定义的定心系数Cc：

其中：

TS是测量的特征尺寸的较大的公差；

TI是测量的特征尺寸的较小的公差。

9.根据权利要求1-3任一所述的方法，其中，

如果确定包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对属于所述总验证集，则不修改部件的制造条件；

如果确定包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对属于所述总制裁集，则停止部件的制造；

如果确定包含所测量的特征尺寸的平均值μ_m和标准偏差σ_m的对属于所述总控制集，则通过调整所述制造装置的调节参数来调整部件的制造条件。