[发明专利]电子设备及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201580070899.7 申请日: 2015-12-24
公开(公告)号: CN107107551B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 太田匡彦;犬伏康贵;佐佐木良一;森原靖;中谷正和 申请(专利权)人: 株式会社可乐丽
主分类号: B32B9/00 分类号: B32B9/00;H01L33/50
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 陈巍;鲁炜<国际申请>=PCT/JP20
地址: 日本冈山县*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 基材 多层结构体 磷化合物 平均粒径 量子点 荧光体 上层
【权利要求书】:

1.电子设备,其是包含量子点荧光体的电子设备,

上述电子设备具备保护片,

上述保护片包含包括基材(X)和在上述基材(X)上层叠的层(Y)的多层结构体(W),

上述层(Y)包含含有铝的化合物(A)和磷化合物(B)的反应产物(D),

上述反应产物(D)的平均粒径在5~50nm的范围内。

2.权利要求1所述的电子设备,其中,在包含量子点荧光体的层的一侧或两侧配置上述保护片。

3.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述磷化合物(B)是无机磷化合物(BI)。

4.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述含有铝的化合物(A)是含有铝的金属氧化物(Aa)。

5.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述反应产物(D)的平均粒径在20~40nm的范围内。

6.权利要求1或2所述的电子设备,其在40℃、90%RH的条件下的透湿度为1.0g/(m2・day)以下。

7.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述基材(X)包含热塑性树脂膜。

8.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述层(Y)包含含有选自羰基、羟基、羧基、酸酐基和羧基的盐中的至少1种的官能团的聚合物(F)。

9.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述多层结构体(W)进一步包含与上述层(Y)相邻而配置的层(Z),上述层(Z)包含具有含磷原子的官能团的聚合物(BOa)。

10.权利要求9所述的电子设备,其中,上述层(Z)的聚合物(BOa)是聚(乙烯基膦酸)或聚(2-膦酰基氧基乙基甲基丙烯酸酯)。

11.权利要求1所述的包含量子点荧光体的电子设备的制造方法,其中,

电子设备具备保护片,

上述保护片包含包括基材(X)和在上述基材(X)上层叠的层(Y)的多层结构体(W),

上述层(Y)包含含有铝的化合物(A)和磷化合物(B)的反应产物(D),

上述制造方法包括:

将包含含有铝的化合物(A)、磷化合物(B)和溶剂的涂布液(S)在上述基材(X)上施涂,形成包含反应产物(D)前体的层(Y)前体的步骤(I),和

将上述层(Y)前体在140℃以上的温度下热处理,由此形成上述层(Y)的步骤(II),

上述步骤(I)中,将涂布液(S)施涂于上述基材(X)上之后,进一步具有将上述涂布液(S)中的溶剂除去的干燥步骤,上述干燥步骤中的干燥温度低于140℃,

上述步骤(I)中的层(Y)的前体层的溶剂含有率为0.4wt%以下,且反应产物(D)前体的平均粒径低于5nm。

12.权利要求11所述的制造方法,其中,上述磷化合物(B)是无机磷化合物(BI)。

13.权利要求11或12所述的制造方法,其中,上述含有铝的化合物(A)是含有铝的金属氧化物(Aa)。

14.权利要求11或12所述的制造方法,其中,上述层(Y)前体的红外线吸收光谱中,1080~1130cm-1的范围中的吸光度的极大值AR和850~950cm-1的范围中的吸光度的极大值AP之比AR/AP为2.0以下。

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