[发明专利]电子设备及其制造方法有效
申请号: | 201580070899.7 | 申请日: | 2015-12-24 |
公开(公告)号: | CN107107551B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 太田匡彦;犬伏康贵;佐佐木良一;森原靖;中谷正和 | 申请(专利权)人: | 株式会社可乐丽 |
主分类号: | B32B9/00 | 分类号: | B32B9/00;H01L33/50 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 陈巍;鲁炜<国际申请>=PCT/JP20 |
地址: | 日本冈山县*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子设备 基材 多层结构体 磷化合物 平均粒径 量子点 荧光体 上层 | ||
1.电子设备,其是包含量子点荧光体的电子设备,
上述电子设备具备保护片,
上述保护片包含包括基材(X)和在上述基材(X)上层叠的层(Y)的多层结构体(W),
上述层(Y)包含含有铝的化合物(A)和磷化合物(B)的反应产物(D),
上述反应产物(D)的平均粒径在5~50nm的范围内。
2.权利要求1所述的电子设备,其中,在包含量子点荧光体的层的一侧或两侧配置上述保护片。
3.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述磷化合物(B)是无机磷化合物(BI)。
4.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述含有铝的化合物(A)是含有铝的金属氧化物(Aa)。
5.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述反应产物(D)的平均粒径在20~40nm的范围内。
6.权利要求1或2所述的电子设备,其在40℃、90%RH的条件下的透湿度为1.0g/(m2・day)以下。
7.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述基材(X)包含热塑性树脂膜。
8.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述层(Y)包含含有选自羰基、羟基、羧基、酸酐基和羧基的盐中的至少1种的官能团的聚合物(F)。
9.权利要求1或2所述的电子设备,其中,上述多层结构体(W)进一步包含与上述层(Y)相邻而配置的层(Z),上述层(Z)包含具有含磷原子的官能团的聚合物(BOa)。
10.权利要求9所述的电子设备,其中,上述层(Z)的聚合物(BOa)是聚(乙烯基膦酸)或聚(2-膦酰基氧基乙基甲基丙烯酸酯)。
11.权利要求1所述的包含量子点荧光体的电子设备的制造方法,其中,
电子设备具备保护片,
上述保护片包含包括基材(X)和在上述基材(X)上层叠的层(Y)的多层结构体(W),
上述层(Y)包含含有铝的化合物(A)和磷化合物(B)的反应产物(D),
上述制造方法包括:
将包含含有铝的化合物(A)、磷化合物(B)和溶剂的涂布液(S)在上述基材(X)上施涂,形成包含反应产物(D)前体的层(Y)前体的步骤(I),和
将上述层(Y)前体在140℃以上的温度下热处理,由此形成上述层(Y)的步骤(II),
上述步骤(I)中,将涂布液(S)施涂于上述基材(X)上之后,进一步具有将上述涂布液(S)中的溶剂除去的干燥步骤,上述干燥步骤中的干燥温度低于140℃,
上述步骤(I)中的层(Y)的前体层的溶剂含有率为0.4wt%以下,且反应产物(D)前体的平均粒径低于5nm。
12.权利要求11所述的制造方法,其中,上述磷化合物(B)是无机磷化合物(BI)。
13.权利要求11或12所述的制造方法,其中,上述含有铝的化合物(A)是含有铝的金属氧化物(Aa)。
14.权利要求11或12所述的制造方法,其中,上述层(Y)前体的红外线吸收光谱中,1080~1130cm-1的范围中的吸光度的极大值AR和850~950cm-1的范围中的吸光度的极大值AP之比AR/AP为2.0以下。
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