[发明专利]位置检测系统以及位置检测方法有效
申请号: | 201580072887.8 | 申请日: | 2015-11-06 |
公开(公告)号: | CN107205612B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 铃木优辅;千叶淳;河野宏尚;木村敦志 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁场 检测线圈 位置检测 金属架 胶囊型内窥镜 位置检测系统 磁场校正 校正系数 校正 检测 校正系数存储部 磁场发生部 位置计算部 产生位置 检测磁场 配置 姿势 存储 输出 | ||
1.一种位置检测系统,其特征在于,具备:
向被检体内导入的胶囊型医疗装置,其产生位置检测用磁场;
多个检测线圈,所述多个检测线圈被配设在所述被检体的外部,检测所述位置检测用磁场并分别输出多个检测信号;
磁场校正部,其针对从所述多个检测线圈分别输出的所述多个检测信号的测定值,对因第一磁场发生构件引起的磁场成分进行校正,所述第一磁场发生构件被配置在由存在于检测对象区域内的所述胶囊型医疗装置产生的所述位置检测用磁场所能到达的空间内,通过所述位置检测用磁场的作用而产生磁场,所述检测对象区域是能够检测所述胶囊型医疗装置的位置的区域;以及
位置计算部,其使用由所述磁场校正部校正后的所述多个检测信号的测定值,来计算所述胶囊型医疗装置的位置和姿势中的至少一方,
其中,所述磁场校正部使用第一校正系数来进行校正,所述第一校正系数是在所述第一磁场发生构件被配置在所述空间内且所述胶囊型医疗装置被配置在所述检测对象区域内的特定位置的状态下由所述多个检测线圈分别检测出的所述位置检测用磁场的多个测定值与在所述第一磁场发生构件没有被配置在所述空间内且所述胶囊型医疗装置被配置在所述特定位置的状态下由所述多个检测线圈分别检测出的所述位置检测用磁场的多个测定值的函数。
2.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,
还具备磁场检测部,该磁场检测部能够检测配置有所述第一磁场发生构件的位置处的磁场,
所述磁场校正部使用由所述磁场检测部检测出的磁场的输出值来对所述多个检测信号的测定值进行校正。
3.根据权利要求2所述的位置检测系统,其特征在于,
所述磁场检测部是沿着所述第一磁场发生构件的外周卷绕而成的线圈。
4.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,
所述第一磁场发生构件呈环状,是支承用于载置所述被检体的基部的金属制的架。
5.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,
所述多个检测线圈被配置在同一基板上,
所述第一磁场发生构件呈环状,是设置在所述基板的周围来支承所述基板的金属制的架。
6.根据权利要求3所述的位置检测系统,其特征在于,
所述第一磁场发生构件是金属制的板。
7.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,
所述第一磁场发生构件呈构成闭合回路的环状,
所述第一校正系数是在所述第一磁场发生构件被配置在所述空间内且在所述检测对象区域内的特定位置产生了具有特定强度的磁场的状态下由所述多个检测线圈分别检测出的所述磁场的多个测定值与在所述第一磁场发生构件没有被配置在所述空间内且从所述特定位置产生了具有所述特定强度的磁场的状态下由所述多个检测线圈分别检测出的所述磁场的多个测定值的函数。
8.根据权利要求7所述的位置检测系统,其特征在于,
基于在将所述胶囊型医疗装置配置在所述特定位置并使该胶囊型医疗装置产生了所述位置检测用磁场的状态下由所述多个检测线圈分别检测出的所述位置检测用磁场的多个测定值,来计算所述第一校正系数。
9.根据权利要求7所述的位置检测系统,其特征在于,
基于在通过对所述多个检测线圈中的一个检测线圈供给电力来使该一个检测线圈产生了磁场的状态下由除所述一个检测线圈以外的多个检测线圈分别检测出的所述磁场的测定值,来计算所述第一校正系数。
10.根据权利要求7所述的位置检测系统,其特征在于,还具备:
第一交链磁通计算部,其基于由所述位置计算部前一次计算出的所述胶囊型医疗装置的位置及姿势与所述第一磁场发生构件的开口面之间的关系,来计算针对所述第一磁场发生构件的第一交链磁通,
所述磁场校正部使用所述第一校正系数和由所述第一交链磁通计算部计算出的所述第一交链磁通,来对所述多个检测信号的测定值进行校正。
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