[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和存储介质

说明书

提供能够缩短拍摄时间和运算时间的图像处理装置、图像处理方法和程序。第1图像处理装置(20)具有：像素值群组生成部(202b)，其按照每个读出电路对像素值进行分类，生成多个像素值群组；以及RTS噪声判定部(202e)，其根据像素值群组生成部(202b)生成的多个群组各自的像素值的分布，针对多个像素值群组分别判定是否产生闪烁缺陷噪声。

技术领域

本发明涉及对具有二维状配置的多个像素的摄像元件中产生的RTS噪声这样的、在一定范围内变动的闪烁缺陷噪声进行判定的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。

背景技术

近年来，在CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor：互补金属氧化物半导体)等摄像元件中，像素和从该像素读出信号的读出电路的细微化得以发展。在这种细微化中，感光度的降低和各种噪声的增加成为问题。针对感光度的降低，通过采用使一个读出电路共用多个像素来读出信号的共用像素构造，削减读出电路的面积，提高各像素的开口率(受光部的比例)，由此提高感光度。

另一方面，在摄像元件产生的噪声中，存在由于暗电流而引起的暗电流散粒噪声和由于读出电路中的热噪音等而引起的随机噪声。并且，除了暗电流散粒噪声和随机噪声以外，还存在像素值始终示出异常值的缺陷像素、以及像素值在每次摄像时变动的闪烁缺陷噪声等。在这种闪烁缺陷噪声中存在由于读出电路而引起的RTS(Random TelegraphSignal：随机电报信号)噪声。作为按照摄像元件的每个像素来检测该RTS噪声的技术，公知有如下技术：计算从各图像的像素值中减去按照每个像素拍摄的多个图像中的像素值的平均值而得到的值，在该值为散粒噪声以上的情况下，检测该值作为RTS噪声的噪声电平(以下称为“RTS噪声电平”)(参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-105063号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在上述专利文献1中，为了提高RTS噪声的检测精度，需要多个图像，存在对检测所需要的图像进行拍摄的拍摄时间和检测所需要的运算量增加这样的问题。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于，提供能够抑制拍摄时间和运算量、并且能够高精度地检测RTS噪声这样的在一定范围内变动的闪烁缺陷噪声的图像处理装置、图像处理方法和程序。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题并实现目的，本发明的图像处理装置的特征在于，所述图像处理装置具有：像素值群组生成部，其针对由具有多个像素和多个读出电路的摄像元件生成的多个图像数据，按照每个所述读出电路对像素值进行分类，生成多个像素值群组，所述多个像素二维状配置，从外部接收光并生成与受光量对应的信号，所述读出电路按照规定像素数共用，读出所述信号作为所述像素值；以及噪声判定部，其根据所述像素值群组生成部生成的所述多个群组各自的像素值的分布，针对所述多个像素值群组分别判定是否产生闪烁缺陷噪声。

并且，本发明的图像处理装置的特征在于，在上述发明中，所述图像处理装置还具有缺陷像素检测部，该缺陷像素检测部根据由所述摄像元件生成的多个图像数据，检测产生了损伤的像素作为缺陷像素，所述像素值群组生成部排除所述缺陷像素检测部检测到的所述缺陷像素的像素值，生成所述多个像素值群组。

并且，本发明的图像处理装置的特征在于，在上述发明中，所述缺陷像素是产生了白伤或黑伤的像素。

并且，本发明的图像处理装置的特征在于，在上述发明中，所述缺陷像素检测部根据由所述摄像元件生成的多个图像数据，计算从所述多个像素分别读出的像素值的平均值，根据该平均值检测所述缺陷像素。