[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及存储介质

说明书

提供图像处理装置、图像处理方法和程序，即使在产生如RTS噪声那样的在一定范围内发生变动的噪声的情况下，也能够得到高画质的图像。第2图像处理装置(30)具有：候选值计算部(302b)，其在由RTS噪声像素判定部(302a)判定为有可能产生闪烁缺陷噪声的情况下，根据噪声信息和关注像素的像素值，计算表示校正闪烁缺陷噪声的校正量的多个候选值；以及校正值计算部(302e)，其根据候选值计算部(302b)计算的多个候选值，校正闪烁缺陷噪声。

技术领域

本发明涉及校正如在具有二维状地配置的多个像素的摄像元件中产生的RTS噪声那样的在一定范围内发生变动的闪烁缺陷噪声的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。

背景技术

近年来，关于CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor；互补金属氧化物半导体)等摄像元件，像素和从该像素读出信号的读出电路在向细微化的方向发展。在这样的细微化中，感光度的下降和各种各样的噪声的增加成为问题。针对感光度的下降，通过采用在1个读出电路中共享多个像素并读出信号的共享像素构造，削减摄像元件中的电路所需的面积，提高各像素的开口率(受光部的比例)，从而提高感光度。

另一方面，在由摄像元件产生的噪声中，除了由暗电流引起的暗电流短路噪声和由读出电路中的热噪音等引起的随机噪声以外，还具有像素值始终表现为异常值的缺陷像素和像素值在每次拍摄时发生变动的闪烁缺陷噪声等。在这样的闪烁缺陷噪声中具有由读出电路引起的RTS(Random Telegraph Signal：随机电报信号)噪声。作为校正该RTS噪声的技术，已知有如下技术：根据所拍摄的图像中的关注像素的像素值、该关注像素的周边像素的像素值和预先按照摄像元件的每个像素而检测出的RTS噪声的噪声等级(以下称作“RTS噪声等级”)，判定RTS噪声是否对关注像素存在影响，在判定为存在RTS噪声的影响的情况下，对该关注像素的像素值加上或减去RTS噪声等级(参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-105063号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，RTS噪声在一定范围内发生变动，所以如上述专利文献1那样，存在仅通过对关注像素的像素值加上或减去始终相同的RTS噪声等级则会产生过校正，由此无法得到充分的画质的问题。

本发明正是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种即使在产生如RTS噪声那样的在一定范围内发生变动的闪烁缺陷噪声的情况下，也能够获得高画质的图像的图像处理装置、图像处理方法和存储介质。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题并达成目的，本发明的图像处理装置校正在摄像元件生成的多个图像数据中包含的闪烁缺陷噪声，该摄像元件具有：多个像素，它们被配置成二维状，从外部接收光，生成与受光量对应的信号；以及多个读出电路，其读出所述信号作为像素值，其特征在于，该图像处理装置具有：噪声信息记录部，其记录噪声信息，该噪声信息是将所述像素值与所述读出电路的位置信息或所述多个像素各自的位置信息和与由于所述读出电路引起的闪烁缺陷噪声相关的特征量对应起来而得到的信息；噪声像素判定部，其根据所述噪声信息记录部记录的噪声信息，判定在关注像素中是否产生所述闪烁缺陷噪声；候选值计算部，其在由所述噪声像素判定部判定为产生所述闪烁缺陷噪声的情况下，根据所述噪声信息记录部记录的所述噪声信息和所述关注像素的像素值计算多个候选值，该多个候选值表示校正所述闪烁缺陷噪声的校正量；以及校正部，其根据所述候选值计算部计算的所述多个候选值，校正所述关注像素的像素值。

此外，本发明的图像处理装置在上述发明中，其特征在于，该图像处理装置还具有代表值计算部，该代表值计算部根据所述关注像素的周边像素的像素值计算代表值，所述校正部根据所述关注像素的像素值、所述多个候选值和所述代表值，校正所述关注像素的像素值。