[发明专利]填充水平测量装置有效
申请号: | 201580073467.1 | 申请日: | 2015-12-14 |
公开(公告)号: | CN107209251B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 克里斯蒂安·塞勒;帕特里克·多伊贝尔 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司 |
主分类号: | G01S7/285 | 分类号: | G01S7/285;G01S13/10;G01S13/88;G01F23/284;G01F23/296 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆森;戚传江 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 填充 水平 测量 装置 | ||
1.一种用于基于飞行时间原理测量容器(12)中的材料的填充水平(11)的测量装置(1),包括用于生成、发射和接收测量信号(S),并进一步用于将所述测量信号(S)转换成模拟中频信号(SIF)的部件(2-9),所述中频信号(SIF)具有在预定频率范围内的期望信号频率,包括与容器(12)中的材料的填充水平(11)相对应的信息,
其特征在于
提供了模数转换器(16),所述模数转换器(16)用于随后对所述中频信号(SIF)进行采样,所述模数转换器(16)采用小于所述中频信号(SIF)的期望信号频率的采样频率(fs),
其中,在所述中频信号(SIF)的频率对应于所述期望频率的情况下,所述模数转换器(16)输出具有相对于所述模拟中频信号(SIF)的频率向下频移的频率的数字中频信号(SIF),并且所述频移的大小对应于所述模数转换器(16)的采样频率(fs)。
2.根据权利要求1所述的测量装置(1)
其特征在于,所述模数转换器(16)集成在所述测量装置(1)的微处理器(17)中。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(1)
其特征在于,提供带通滤波器(13),所述带通滤波器(13)用于使所述预定频率范围通过并过滤大于所述测量信号(S)的测量信号频率的频率。
4.根据权利要求3所述的测量装置(1)
其特征在于,所述带通滤波器(13)被实现为使对应于所述预定频率范围的频率范围通过,其中所述频率范围小于所述模数转换器(16)的采样频率(fs)的一半。
5.根据权利要求1所述的测量装置(1),其特征在于,所述测量装置(1)是基于脉冲雷达的填充水平测量装置(1),其中本地振荡器(7)在所述测量装置(1)中产生本地振荡器信号(SLO),并且提供混频器(9),所述混频器(9)用于将接收到的包括电磁脉冲序列的测量信号(S)与所述本地振荡器信号(SLO)混频,并且输出模拟中频信号(SIF)。
6.根据权利要求3所述的测量装置(1),其特征在于,提供可变放大器(14),所述可变放大器(14)连接在所述带通滤波器(13)和所述模数转换器(16)之间。
7.根据权利要求6所述的测量装置(1),其特征在于,第二带通滤波器(15)连接在所述可变放大器(14)和所述模数转换器(16)之间。
8.根据权利要求7所述的测量装置(1),其特征在于,所述模数转换器(16)直接连接到所述第二带通滤波器(15)。
9.根据权利要求1所述的测量装置(1),其特征在于,所述模数转换器(16)集成在所述测量装置(1)的微处理器(17)中,并且
所述微处理器(17)包括用于对所述数字中频信号(SIF)执行抽取处理的部件组(24)。
10.根据权利要求1所述的测量装置(1),其特征在于,所述模数转换器(16)集成在所述测量装置(1)的微处理器(17)中,并且
所述微处理器(17)包括用于对所述数字中频信号(SIF)进行平方(20)、低通滤波(22)并且执行平方根功能(23)的部件组(24)。
11.根据权利要求1所述的测量装置(1),其特征在于,所述模数转换器(16)集成在所述测量装置(1)的微处理器(17)中,并且
所述微处理器(17)包括用于对所述数字中频信号(SIF)进行前向-反向滤波的部件组(24)。
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