[发明专利]偏移计算设备和使用偏移计算设备的方位角传感器

权利要求书

1.一种偏移计算设备，其用于处理作为三轴或两轴坐标系中的数据点顺序获取的三轴或两轴磁力检测数据，所述偏移计算设备用于

将N个数据点(其中N≥2)均匀地平移，使得从N个数据点任意选择的一个参考数据点与原点一致，以获得除了参考数据点之外的(N-1)个虚拟数据点，

计算使得通过原点的曲面或曲线分别到各个虚拟数据点的距离之和最小的虚拟偏移点，以及

通过将虚拟偏移点与先前的平移进行相反地平移，来计算磁检测数据的偏移值。

2.根据权利要求1所述的偏移计算设备，其中

当虚拟数据点由(Hxi′，Hyi′，Hzi′)(其中i＝1到N-1)表示，并且虚拟偏移点由(Hx0′，Hy0′，Hz0′)表示时，

所述偏移计算设备用于计算使得由下面的公式(1)给出的曲面方程最小的虚拟偏移点

[公式1]

H1＝∑_i(Hxi′²+Hyi′²+Hzi′²-2Hxi′·Hx0′-2Hyi′·Hy0′-2Hzi′·Hz0′)²…(1)。

3.根据权利要求1所述的偏移计算设备，其中

当虚拟数据点由(Hxi′，Hyi′)(其中i＝1到N-1)表示，并且虚拟偏移点由(Hx0′，Hy0′)表示时，

所述偏移计算设备用于计算使得由下式(2)给出的曲线方程最小的虚拟偏移点

[公式2]

H2＝Σ_i(Hxi′²+Hyi′²-2Hxi′·Hx0′-2Hyi′·Hy0′)²…(2)。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的偏移计算设备，其中

所述偏移计算设备用于：

通过参考经过偏移校正的磁检测数据，不断搜索与各个轴的最大值和最小值对应的多个最大和最小数据点，

当各个轴的最大值和最小值之间的所有差值等于或大于相应阈值时，执行一系列偏移计算处理。

5.根据权利要求4所述的偏移计算设备，其中

N个数据点包括多个最大和最小数据点。

6.根据权利要求5所述的偏移计算设备，其中

所述参考数据点是不同于多个最大和最小数据点中的任何一个的任意点。

7.根据权利要求5所述的偏移计算设备，其中

所述参考数据点是多个最大和最小数据点中的一个。

8.一种方位角传感器，包括：

磁力检测设备，其用于生成三轴或两轴磁检测数据；

根据权利要求1至7中任一项所述的偏移计算设备，其用于计算所述磁检测数据的偏移量；

偏移校正设备，其用于校正所述磁检测数据的偏移量；以及

方位角计算设备，其用于根据经过校正的磁检测数据生成方位角数据。

9.一种电子装置，包括权利要求8所述的方位角传感器。

10.一种偏移计算方法，其用于处理作为三轴或两轴坐标系中的数据点顺序获取的三轴或两轴磁检测数据，所述偏移计算方法包括：

将N个数据点(其中N≥2)均匀地平移，使得从N个数据点任意选择的一个参考数据点与原点一致，以获得除了参考数据点之外的(N-1)个虚拟数据点；

计算使得通过原点的曲面或曲线分别到虚拟数据点的距离之和最小的虚拟偏移点；以及

通过将虚拟偏移点与先前的平移相反地进行平移，来计算所述磁检测数据的偏移值。