[发明专利]深度传感器模块和深度感测方法有效
申请号: | 201580074192.3 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN107430187B | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | T·欧吉尔;M·德施乐;S·卡劳斯蒂昂 | 申请(专利权)人: | 新加坡恒立私人有限公司 |
主分类号: | G01S7/48 | 分类号: | G01S7/48;G01S17/48;G01C3/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 深度 传感器 模块 方法 | ||
1.一种深度传感器模块(2),包括用于照亮物体的光发射部分(30)和光检测器部分(20),所述光发射部分(30)和所述光检测器部分(20)在三角测量基线(15)的方向上在空间上偏移,其中所述光发射部分(30)包括在所述三角测量基线(15)的方向上在空间上偏移的至少两个光源(32a,32b),其中所述光检测器部分(20)被配置成获取光并沿着所述三角测量基线(15)的方向提供所获取的光的强度分布,
其中,模块(2)被配置成通过确定在起源于所述光发射部分(30)的所述至少两个光源(32a,32b)中的两个的所获取的光的两个强度分布之间的差分的零交叉点来实现三角测量评价。
2.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述至少两个光源(32a,32b)被配置成被单独地控制。
3.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述至少两个光源(32a,32b)包含在单个裸片(32)中。
4.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述至少两个光源(32a,32b)中的第一个和第二个能够操作来分别发射具有第一光强度分布的第一光束和具有第二光强度分布的第二光束,其中所述第一光强度分布和第二光强度分布相对于垂直地与所述三角测量基线对齐的一平面是相互对称的。
5.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述光发射部分(30)能够操作来交替地:
-利用所述至少两个光源中的第一个(32a)照亮物体而不用所述至少两个光源中的第二个(32b)照亮物体;以及
-利用所述至少两个光源中的第二个(32b)照亮物体而不用所述至少两个光源中的第一个(32a)照亮物体。
6.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述光检测器部分(20)包括被配置成获取光的图像传感器(210)。
7.根据权利要求6所述的深度传感器模块(2),其中所述图像传感器(210)包括飞行时间图像传感器。
8.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述深度传感器模块(2)被配置成实现飞行时间测量。
9.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述光发射部分(30)包括至少一个光学反馈像素(212)。
10.根据权利要求1所述的深度传感器模块(2),其中所述深度传感器模块(2)是接近传感器。
11.一种使用深度传感器(2)的深度感测方法,所述深度传感器(2)具有用于照亮物体的光发射部分(30)和光检测器部分(20),所述光发射部分(30)和所述光检测器部分(20)在三角测量基线(15)的方向上在空间上偏移,其中所述光发射部分(30)包括在所述三角测量基线(15)的方向上在空间上偏移的至少两个光源(32a,32b),其中所述方法包括:使用所述光发射部分(30)发射光,使用所述光检测器部分(20)获取光,以及沿着所述三角测量基线(15)的方向获得所获取的光的强度分布,
使用所获取的光的强度分布执行三角测量评价,其中,执行三角测量评价包括确定在分别起源于所述光发射部分(30)的所述至少两个光源(32a,32b)中的第一个和第二个的所获取的光的第一和第二强度分布之间的差分的零交叉点(39)。
12.根据权利要求11所述的深度感测方法,其中所述至少两个光源(32a,32b)中的第一个和第二个被操作来分别发射具有第一光强度分布的第一光束和具有第二光强度分布的第二光束,其中所述第一光强度分布和第二光强度分布相对于垂直地与所述三角测量基线对齐的一平面是相互对称的。
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