[发明专利]用于成像激光器的温度控制

权利要求书

1.一种用于激光打印机的成像系统，包括：

成像激光器，其中，在驱动电流范围内，所述激光器的阈值电流随着温度而变化并且所述激光器的效率不随温度而变化；

功率传感器，所述功率传感器用于测量所述激光器在所述驱动电流范围内的驱动电流下的输出功率；以及

温度控制设备，所述温度控制设备基于由所述功率传感器测量的输出功率来改变所述激光器的温度。

2.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述成像激光器包括用于对光电导体同时成像的成阵列的多个成像激光器，阵列中的每个激光器在驱动电流范围内具有随温度变化的阈值电流和不随温度而变化的效率；

所述功率传感器用于单独地测量所述激光器中的每个激光器在所述驱动电流范围内的驱动电流下的输出功率；以及

所述温度控制设备用于基于由所述功率传感器测量的输出功率来单独地改变所述阵列的温度或者所述激光器中的每个激光器的温度。

3.根据权利要求2所述的系统，包括控制器，所述控制器用于在成像序列期间：

单独地驱动每个激光器以发射光束；

从测量发射所述光束的所述激光器的输出功率的所述功率传感器接收信号；

基于测量的输出功率来确定所述激光器的阈值电流；

将所述阈值电流与目标进行比较；以及

如果所述阈值电流与所述目标不同，则使所述温度控制设备改变所述激光器的温度。

4.一种用于激光打印机的成像系统，包括：

多个激光器的阵列，所述多个激光器的阵列用于对光电导体成像；

功率传感器，所述功率传感器用于单独地感测所述激光器中的每个激光器的输出功率；

热电冷却器，所述热电冷却器用于冷却所述激光器；以及

温度控制器，所述温度控制器具有处理器以及在其上具有指令的有形非暂时性处理器可读介质，所述指令当被所述处理器执行时使得所述控制器：

从测量所述阵列中的所述激光器中的一个激光器的输出功率的所述功率传感器接收信号；

基于测量的输出功率来确定所述激光器的阈值电流；

将所述阈值电流与目标进行比较；

如果所述阈值电流大于所述目标，则使得所述热电冷却器增加至所述激光器的冷却流体；

如果所述阈值电流小于所述目标，则使得所述热电冷却器降低至所述激光器的冷却流体；以及

针对所述阵列中的每个激光器重复进行所述接收、所述确定和所述比较。

5.根据权利要求4所述的成像系统，其中，所述热电冷却器用于单独地冷却所述激光器中的每个激光器。

6.根据权利要求4所述的成像系统，其中，所述热电冷却器用于将每个激光器与作为所述阵列的部分的其它激光器一起进行冷却。

7.根据权利要求4所述的成像系统，其中，所述指令包括当由所述处理器执行时使得所述控制器针对每个激光器在驱动电流范围下建立驱动电流与输出功率之间的关系，在所述驱动电流范围内所述激光器的所述阈值电流随温度而变化，但所述激光器的效率不随温度而变化。

8.根据权利要求4所述的成像系统，其中，所述指令包括当由所述处理器执行时使得所述控制器在所述激光器空闲时的成像序列期间针对每个激光器周期性地重复所述接收、所述确定和所述比较的指令。

9.根据权利要求4所述的成像系统，其中，所述功率传感器是单个功率传感器，用于感测所述阵列中的所述激光器中的每个激光器的输出功率，并且所述激光器一起排列在单片式集成电路器件中。

10.一种控制多个成像激光器的阵列中的成像激光器的温度的过程，包括：

在成像序列期间，单独地驱动所述激光器中的一个激光器以发射光束；

测量发射所述光束的所述激光器的输出功率；

基于测量的输出功率来改变所述激光器的温度；以及

针对所述阵列中的每个激光器重复所述驱动、所述测量和所述改变。

11.根据权利要求10所述的过程，其中，所述改变包括：

根据所述激光器的功率曲线的斜率，基于测量的输出功率来确定所述激光器的阈值电流；

将所述阈值电流与目标进行比较；以及

如果所述阈值电流与所述目标不同，则取决于所述阈值电流高于还是低于所述目标来降低或升高所述激光器的温度。