[发明专利]光电测量装置和测量电流的方法在审

专利信息
申请号: 201580076343.9 申请日: 2015-01-16
公开(公告)号: CN107250814A 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: M.霍夫斯泰特尔;D.埃尔金;M.威尔施 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R15/24 分类号: G01R15/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 熊雪梅
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光电 测量 装置 电流 方法
【权利要求书】:

1.一种利用光源(5)以及利用检测器(6)测量电流的测量装置(1),光源用于产生偏振主光信号以馈入法拉第传感器装置(2),检测器用于采集由法拉第传感器装置(2)提供的、相对于主光信号偏振改变的二次光信号,

其特征在于,

补偿元件(8,9,10),借助其能够通过相反的偏振改变对二次光信号的偏振改变进行补偿,并且能够针对电流得出与相反的偏振改变有关的测量信号。

2.根据权利要求1所述的测量装置(1),其中,补偿元件(8,9,10)包括进行补偿的法拉第传感器装置(8)以及布置在进行补偿的法拉第传感器装置(8)的位置附近的补偿电流导体(9),其中,二次光信号通过进行补偿的法拉第传感器装置(8),并且能够调整补偿电流导体(9)中的补偿电流,使得能够对二次光信号的偏振改变进行补偿,其中,能够依据补偿电流得出测量信号。

3.根据权利要求2所述的测量装置(1),其中,补偿元件(8,9,10)包括调节装置(10),调节装置被配置为借助补偿电流作为控制参量,对二次光信号的偏振改变或者由其得出的调节参量进行零调节。

4.根据权利要求2或3所述的测量装置(1),其中,法拉第传感器装置(2)和进行补偿的法拉第传感器装置(8)相同地构造。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(1),其中,检测器(6)被配置为依据二次光信号的偏振状态采集光强度。

6.根据权利要求5所述的测量装置(1),其中,检测器(6)包括偏振分析器(61)。

7.根据权利要求6所述的测量装置(1),其中,偏振分析器(61)被调整为,没有偏振改变的二次光信号在检测器(6)的输出处产生零信号。

8.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(1),其中,法拉第传感器装置(2)包括光纤线圈或者玻璃环,以传导主光信号。

9.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(1),其中,法拉第传感器装置(2)布置在高压电流导体(3)附近,使得能够针对高压电流导体(3)中的电流得出测量信号。

10.根据权利要求9所述的测量装置(1),其中,光源(5)和检测器(6)布置在地电势附近,其中,光源(5)包括光发生元件(51)以及与其间隔开的偏振元件(52),其中,光发生元件(51)和偏振元件(52)借助光导纤维(53)彼此连接,以及其中,测量装置(1)还包括用于传导主光信号的偏振保持光纤(16),其将偏振元件(52)和法拉第传感器装置(2)彼此连接。

11.根据权利要求10所述的测量装置(1),其中,检测器(6)包括偏振分析器(61)以及与其间隔开的强度传感器(62),其中,偏振分析器(61)和强度传感器(62)借助另一个光导纤维(63)彼此连接,以及其中,测量装置(1)还包括另一个用于传导二次光信号的偏振保持光纤(19),其将法拉第传感器装置(2)和偏振分析器(61)彼此连接。

12.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(1),其中,检测器(6)布置在进行补偿的法拉第传感器装置(8)的位置附近。

13.一种测量电流的方法,其中,将借助光源(5)产生的主光信号馈入法拉第传感器装置(2)中,法拉第传感器装置提供相对于主光信号偏振改变的二次光信号,

其特征在于,

借助补偿元件(8,9,10)通过相反的偏振改变对二次光信号的偏振改变进行补偿,并且针对电流得出与相反的偏振改变有关的测量信号。

14.根据权利要求13所述的方法,其中,对二次光信号的偏振改变的补偿借助偏振改变的零调节或者借助由其得出的调节参量的零调节来进行。

15.根据权利要求14所述的方法,其中,二次光信号通过布置在补偿电流导体(9)的位置附近的进行补偿的法拉第传感器装置(8),并且零调节以通过补偿电流导体(9)的补偿电流作为控制参量来进行。

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