[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和记录介质有效

专利信息
申请号: 201580081299.0 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN107710734B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 丸山裕辉;市川学 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N1/409;H04N5/21;H04N5/367
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;于英慧
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 装置 方法 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种图像处理装置,其对具有多个像素和多个读出电路的摄像元件生成的图像数据中包含的闪烁缺陷噪声进行校正,所述多个像素呈二维状配置,从外部接收光并生成与受光量对应的信号,所述多个读出电路读出所述信号作为像素值,其特征在于,所述图像处理装置具有:

取得部,其取得包含产生由所述读出电路引起的闪烁缺陷噪声的所述读出电路的位置信息或所述多个像素各自的位置信息在内的噪声信息以及所述图像数据;以及

校正部,其将所述取得部取得的所述图像数据作为校正对象图像数据,根据参照图像数据和所述噪声信息,对所述校正对象图像数据中的关注像素的像素值进行校正,所述参照图像数据基于与该校正对象图像数据不同的时间取得的所述图像数据,

所述图像处理装置还具有移动量计算部,该移动量计算部根据所述校正对象图像数据和所述参照图像数据计算被摄体的移动量,

所述校正部根据所述移动量计算部计算出的所述移动量取得与所述关注像素或所述关注像素附近的像素对应的所述参照图像数据的参照像素,根据该参照像素的像素值对所述关注像素的像素值进行校正,

其中,所述校正部根据所述参照像素的像素值计算与未产生所述闪烁缺陷噪声的情况下的像素值相当的代表值,根据该代表值对所述关注像素的像素值进行校正,

所述图像处理装置还具有噪声量估计部,该噪声量估计部估计所述关注像素周边的随机噪声量,

所述校正部根据所述随机噪声量计算所述代表值。

2.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

在所述关注像素中产生所述闪烁缺陷噪声的情况下,与未产生所述闪烁缺陷噪声的情况相比,所述校正部增大所述关注像素处的噪声降低处理的强度。

3.根据权利要求2所述的图像处理装置,其特征在于,

在所述关注像素中产生所述闪烁缺陷噪声的情况下,所述校正部增大使用所述参照图像数据的时间方向的噪声降低处理的强度。

4.根据权利要求2所述的图像处理装置,其特征在于,

在所述关注像素中产生所述闪烁缺陷噪声的情况下,所述校正部增大使用所述关注像素周边的像素的空间方向的噪声降低处理的强度。

5.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

所述校正部根据所述关注像素的像素值计算所述代表值。

6.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

所述校正部根据未产生所述闪烁缺陷噪声的所述参照像素的像素值或对所述闪烁缺陷噪声进行校正后的所述参照像素的像素值,计算所述代表值。

7.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

所述校正部根据未产生所述闪烁缺陷噪声的所述关注像素周边的像素的像素值,计算所述代表值。

8.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

所述噪声信息还包含与产生由所述读出电路引起的闪烁缺陷噪声的所述读出电路的位置信息或所述多个像素各自的位置信息对应的所述闪烁缺陷噪声的噪声电平即闪烁缺陷噪声电平,

所述校正部使用所述闪烁缺陷噪声电平对所述关注像素的像素值进行校正。

9.根据权利要求2所述的图像处理装置,其特征在于,

所述噪声信息还包含与产生由所述读出电路引起的闪烁缺陷噪声的所述读出电路的位置信息或所述多个像素各自的位置信息对应的所述闪烁缺陷噪声的噪声电平即闪烁缺陷噪声电平,

所述闪烁缺陷噪声电平越大,则所述校正部越增大所述关注像素处的噪声降低处理的强度。

10.根据权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,

所述噪声信息还包含与产生由所述读出电路引起的闪烁缺陷噪声的所述读出电路的位置信息或所述多个像素各自的位置信息对应的所述闪烁缺陷噪声的噪声电平即闪烁缺陷噪声电平,

所述校正部根据所述闪烁缺陷噪声电平计算所述代表值。

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