[发明专利]用于井下核应用的闪烁体检测器中的暗电流校正在审
申请号: | 201580082523.8 | 申请日: | 2015-09-14 |
公开(公告)号: | CN107923986A | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | I·S·薇拉 | 申请(专利权)人: | 哈里伯顿能源服务公司 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01T1/202 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 高见,张欣 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 井下 应用 闪烁 体检 中的 电流 校正 | ||
1.一种用于测量和处理井筒内收集的核辐射数据的系统,其包括:
工具管柱;以及
辐射测井工具,所述辐射测井工具安装到所述工具管柱,所述辐射测井工具包括:(ⅰ)辐射发射器,所述辐射发射器可操作来将核信号发射到地球岩层中;以及(ⅱ)闪烁体检测器,所述闪烁体检测器用于收集来自地球岩层的反向散射信号,所述闪烁体检测器包括快门,所述快门可操作来在打开构型与关闭构型之间致动,其中处于所述打开构型的所述快门允许所述闪烁体检测器收集基于所述反向散射信号的信号数据,并且处于所述关闭构型的所述快门允许所述闪烁体检测器收集系统噪声数据以从所述信号数据中去除系统噪声。
2.根据权利要求1所述的系统,其还包括本地处理单元,所述本地处理单元包括具有指令的非暂时性计算机可读介质,所述指令可执行用于从所述信号数据中移除系统噪声以输出经校正的信号数据,所述系统噪声包括暗电流。
3.根据权利要求2所述的系统,其中所述本地处理单元包括用于基于所述系统噪声来计算校正值的指令以及用于使用所述校正值来从所述信号数据中去除所述系统噪声的指令。
4.根据权利要求2所述的系统,其还包括远程控制单元,所述远程控制单元被电耦接到所述本地处理单元,所述远程控制单元可操作来从所述本地处理单元接收信号数据。
5.根据权利要求2所述的系统,其中所述闪烁体检测器还包括耦接到所述闪烁体检测器的检查源,以用于发射由所述闪烁体检测器收集的参考信号。
6.根据权利要求5所述的系统,其中所述本地处理单元包括用于基于检查源参考信号来计算所述闪烁体检测器的光电传感器漂移并且用于基于所述计算的光电传感器漂移来调节传送到所述闪烁体检测器的电力的指令。
7.根据权利要求5所述的系统,其中所述本地处理单元包括用于基于检查源参考信号来计算所述闪烁体检测器的光电传感器漂移、用于基于所述计算的光电传感器漂移来计算对所述系统噪声的调整、以及用于基于对所述系统噪声的所述调整来计算校正值以便从所述信号数据中去除系统噪声的指令。
8.一种辐射测井工具,其包括:
辐射发射器;
闪烁体检测器,所述闪烁体检测器包括:
闪烁构件,所述闪烁构件可操作来从或通过地球地层接收核辐射信号,并且响应于接收到所述核辐射信号而产生光子;
光电传感器,所述光电传感器用于基于所述核辐射信号接收来自所述闪烁构件的所述光子,并且用于将所述光子转换成输出信号;以及
快门,所述快门(i)可在打开构型与关闭构型之间操作以从所述输出信号中去除系统噪声,并且(ii)定位在所述闪烁构件与所述光电传感器之间。
9.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其中所述光电传感器为光电倍增管,其中所述系统噪声包括暗电流。
10.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其中所述快门是液晶快门、机械快门或光学快门。
11.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其中所述快门可操作来通过快门控制电压在所述打开构型与所述关闭构型之间致动,所述打开构型允许所述闪烁体检测器收集基于反向散射信号的信号数据,所述关闭构型允许所述闪烁体检测器收集系统噪声数据以从所述收集的信号数据中去除所述系统噪声数据。
12.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其还包括位于所述辐射发射器与所述闪烁体检测器之间的屏蔽元件。
13.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其还包括位于所述闪烁构件附近的检查源。
14.根据权利要求8所述的辐射测井工具,其还包括位于所述闪烁构件内的检查源。
15.根据权利要求12所述的辐射测井工具,其还包括:
次级快门,所述次级快门可在打开构型与关闭构型之间操作,所述次级快门耦接到所述闪烁构件;
屏蔽壳体,所述屏蔽壳体除了次级闪烁构件的耦接到所述次级快门的区域之外围绕所述次级闪烁构件,其中检查源位于所述次级闪烁构件内;以及
光纤,所述光纤光学耦接所述次级快门和所述次级闪烁构件。
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