[发明专利]一种使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法有效
| 申请号： | 201580083565.3 | 申请日： | 2015-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN108139493B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;程华斌 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 罗水江 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 使用 射线 检测器 测量 强度 分布 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法，所述方法包括：
通过暗电流检测电路确定所述X射线检测器上至少三个位点处的暗电流的值，其中所述三个位点不在一条直线上；
基于所述至少三个位点处的厚度与所述至少三个位点处的暗电流之间成比例的关系，使用所述暗电流的值确定由所述X射线检测器的X射线吸收层的厚度变化引起的所述X射线的吸收率的空间变化；
测量所述X射线的表观强度分布；
通过从所述表观强度分布去除吸收率的空间变化的贡献来确定所述强度分布。
2.如权利要求1所述的方法，其中确定所述暗电流的值是在所述X射线检测器的三个像素处。
3.如权利要求1所述的方法，其中所述吸收率的空间变化与位点成线性关系。
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