[发明专利]光响应非均匀性抑制有效

专利信息
申请号: 201580083566.8 申请日: 2015-10-02
公开(公告)号: CN108141504B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: D·贝范格;J·M·戈麦斯·卢西亚;J·哈彻;H·A·拉扎维 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: H04N1/04 分类号: H04N1/04;H04N1/32
代理公司: 11018 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 郭艳芳;康泉<国际申请>=PCT/US2
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 扫描系统 校准 文档 非均匀性抑制 校正函数 光响应
【权利要求书】:

1.一种用于光响应非均匀性(PRNU)抑制的方法,包括:

使用扫描系统执行校准表面PRNU表征;

使用所述扫描系统执行基于文档的PRNU表征;以及

基于所述校准表面PRNU表征和所述基于文档的PRNU表征,确定所述扫描系统的PRNU抑制的校正函数。

2.根据权利要求1所述的方法,其中执行所述校准表面PRNU表征包括:

扫描所述扫描系统的校准表面;以及

基于扫描得到的校准表面确定校准表面PRNU校正输出值。

3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括通过将所述校正函数应用到所述扫描系统的输出来抑制所述输出中的PRNU区域。

4.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述校准表面PRNU表征包括:针对所述扫描系统的输出中的多个重叠区域中的每一个,确定混合区域输出响应,其中所述混合区域是所述扫描系统的多个扫描杆重叠的区域。

5.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:通过根据所述校准表面PRNU表征和所述基于文档的PRNU表征调整校准表面PRNU对象,来抑制所述扫描系统的输出中的PRNU区域。

6.一种非暂时性机器可读介质,用于存储由处理器可执行的指令,所述指令使得所述处理器:

使用扫描系统确定校准表面光响应非均匀性(PRNU)表征;

使用所述扫描系统确定基于文档的PRNU表征;

基于所述校准表面PRNU表征和所述基于文档的PRNU表征来确定所述扫描系统的PRNU抑制的校正函数;以及

通过根据所述校准表面PRNU表征和所述基于文档的PRNU表征调整校准表面PRNU对象,来抑制所述扫描系统的输出中的PRNU区域。

7.根据权利要求6所述的介质,其中用于确定校准表面PRNU表征的指令包括针对中间光照级确定校准表面PRNU补偿对象的指令。

8.根据权利要求6所述的介质,其中用于确定校准表面PRNU表征的指令包括确定所述扫描系统中多个相邻扫描杆之间的平均信号响应的指令。

9.根据权利要求6所述的介质,其中用于确定校准表面PRNU表征的指令包括针对混合区域中的每个像素计算校准表面PRNU补偿参数的指令,其中所述混合区域是所述扫描系统的多个扫描杆重叠的区域。

10.根据权利要求6所述的介质,其中用于确定基于文档的PRNU表征的指令包括使用所述扫描系统在暗级、中间级和亮级下扫描测试文档的指令。

11.根据权利要求10所述的介质,其中用于确定基于文档的PRNU表征的指令包括针对所述文档扫描的像素确定基于文档的PRNU补偿参数的指令。

12.一种用于光响应非均匀性(PRNU)抑制的大格式捕获装置,包括:

多个捕获装置,其中每个捕获装置包括:

用于产生对从样品反射的光的量进行量化的响应信号的传感器系统;和

处理系统,用于:

确定校准表面PRNU表征;

确定基于文档的PRNU表征;

基于所述校准表面PRNU表征和所述基于文档的PRNU表征确定PRNU抑制的校正函数;以及

通过将所述校正函数应用于所述大格式捕获装置的输出来抑制所述输出中的PRNU区域。

13.根据权利要求12所述的装置,其中所述多个捕获装置横向地和纵向地交错以产生混合区域。

14.根据权利要求12所述的装置,其中所述多个处理系统中的每一个确定相应的扫描区域中的每个像素的校准表面PRNU补偿参数。

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