[发明专利]隔膜位移流量计

权利要求书

1.一种流量计（5），包括：

壳体（28），其构造成接收过程材料的流；

布置在所述壳体（28）中的隔膜（18），其中所述隔膜（18）能够通过所述过程材料的流而形变，其中，所述隔膜（18）包括构造成允许过程材料从中流过的孔（42），且其中，所述隔膜（18）包括感测环（20），该感测环（20）具有由其所限定的第二孔(50)，该第二孔(50)构造成允许过程材料从中流过；

磁性传感器（48），其构造成经由所述感测环（20）的位置来检测所述隔膜（18）中的形变；且

其中，所述流量计（5）构造成测量所述过程材料的流量。

2.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，所述传感器（48）是霍尔效应传感器。

3.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，所述感测环（20）包括含铁部分。

4.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，所述感测环（20）包括磁性部分。

5.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，还包括布置在所述传感器（48）附近的磁体（52）。

6.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，还包括构造成接收所述流量计（5）的基部（12）。

7.根据权利要求6所述的流量计（5），其特征在于，所述传感器（48）布置在所述基部（12）中。

8.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，还包括构造成检测所述过程材料的温度的温度传感器（34）。

9.根据权利要求8所述的流量计（5），其特征在于，还包括构造成接收所述流量计（5）的基部（12），所述温度传感器（34）布置在所述基部（12）中。

10.根据权利要求6所述的流量计（5），其特征在于，还包括：

与所述流量计（5）一起的、包括相关联的数据的数据发送器（56）；和

与所述基部（12）一起的数据接收器（58），其中与所述数据发送器（56）相关联的数据能够被传送到所述数据接收器（58）。

11.根据权利要求1所述的流量计（5），其特征在于，所述隔膜（18）中的形变与所述过程材料的流量成比例。

12.一种通过流量计测量过程材料的流量的方法，包括：

提供构造成接收过程材料的流的壳体，具有布置在其中的隔膜；

在所述隔膜上提供感测环；

提供构造成检测所述隔膜中的形变的磁性传感器，其中，该传感器构造成检测所述感测环的位置；

在所述隔膜中形成孔，其中，所述孔构造成允许过程材料从中流过，且其中，所述感测环包括由其所限定的第二孔，该第二孔构造成允许过程材料从中流过；

使过程材料流过所述壳体；

利用所述过程材料的流的力使所述隔膜形变；和

测量所述过程材料的流量。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述隔膜的形变与所述过程材料的流量成比例。

14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述传感器是霍尔效应传感器。

15.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述感测环包括含铁部分。

16.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述感测环包括磁性部分。

17.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，包括将磁体靠近所述传感器放置的步骤。