[发明专利]检测错位有效

专利信息
申请号: 201580084227.1 申请日: 2015-10-30
公开(公告)号: CN108349624B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: J·辛拉;G·瑟塞尔;G·沙罗斯凯;F·罗雷帕斯托尔 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: B65D5/42 分类号: B65D5/42;B65H45/28;B65H23/188
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;王英
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 错位
【权利要求书】:

1.一种用于检测系统中的错位的方法,所述系统包括打印机以及折叠装置,所述折叠装置被布置为折叠从所述打印机输出的记录介质纸张,所述方法包括:

在所述打印机处接收要将校准图案打印在记录介质上的请求;以及

响应于所述请求,将所述校准图案的图像打印在记录介质纸张上,其中,所述校准图案包括被定位的标有刻度的测量尺度,使得:

当在没有错位的情况下将所述校准图案打印在预定尺寸的记录介质纸张上时,将所述校准图案中的多个测量尺度的匹配刻度打印在所述记录介质纸张上的相应参考位置处,所述相应参考位置对应于所述记录介质纸张的角部或对应于沿着计划由所述折叠装置折叠所述记录介质纸张的线的间隔位置,以及

当在有错位的情况下将所述校准图案打印在预定尺寸的记录介质纸张上时,将所述多个测量尺度的非匹配刻度打印在所述记录介质纸张上的参考位置处,其中:

所述多个测量尺度包括位于所述校准图案的角部处的多个第一测量尺度,每个第一测量尺度包括标记与所述校准图案的所述角部的真实位置偏离不同距离的相应角部位置的刻度集合,并且每个第一测量尺度中的刻度彼此平行;和/或

所述多个测量尺度包括多个第二测量尺度,

所述多个第二测量尺度位于沿着所述校准图案中的线间隔开的相应位置,所述相应位置对应于计划由所述折叠装置折叠所述预定尺寸的记录介质纸张的折叠线,

所述多个第二测量尺度中的每一个包括标记在垂直于所述校准图案中的所述线的方向上与所述校准图案中的所述线偏离不同量的相应折叠位置的刻度集合。

2.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述第一测量尺度包括L形刻度集合,其中,每个L形的分支平行于所述校准图案的边缘,并且每个L形的角度朝向所述第一测量尺度所位于的所述校准图案的角部。

3.根据权利要求2所述的方法,其中:

所述第一测量尺度中的所述L形刻度以规则的间距彼此间隔开,并且所述校准图案包括指示所述L形刻度中的特定L形刻度离所述校准图案的所述边缘的距离的标记。

4.根据权利要求1所述的方法,其中:

在所述校准图案的角部中的每一个角部处存在第一测量尺度。

5.根据权利要求1所述的方法,还包括:基于在所述记录介质纸张的角部处的参考位置处打印的所述第一测量尺度的刻度,以平移和/或旋转的方式调整所述打印机与所述记录介质纸张之间的相对位置。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述系统还包括用于从卷形物切割要由所述打印机打印的所述记录介质纸张的切割机构,所述方法还包括:

基于在所述记录介质纸张的角部处的参考位置处打印的所述第一测量尺度的刻度,调整所述切割机构的切割位置。

7.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述第二测量尺度中的刻度以规则的间距彼此间隔开,并且所述校准图案包括指示所述刻度中的特定刻度离所述校准图案中的所述线的距离的标记。

8.根据权利要求1所述的方法,其中:

在所述校准图案中的多条线中的每一条线上,存在至少一对第二测量尺度,所述校准图案中的所述多条线对应于计划由所述折叠装置折叠预定尺寸的所述记录介质纸张的相应折叠线。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括:基于在沿着折叠纸张的共同折叠处定位的参考位置处打印的所述第二测量尺度的刻度,调整所述打印机与所述折叠装置之间的相对角度位置。

10.根据权利要求1所述的方法,还包括:由所述折叠装置折叠所述记录介质纸张,并且基于在沿着折叠纸张的共同折叠处定位的参考位置处打印的所述第二测量尺度的刻度,调整所述折叠装置的折叠参数。

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