[发明专利]提供精确坐标测量的方法、独立基准模块和坐标测量机

权利要求书

1.一种用于利用坐标测量机来提供精确坐标测量的方法，该方法包括以下步骤：

通过以下步骤初始校准具有带限定定标的基准元件的独立基准模块：

参照相应绝对标准测量所述基准元件的物理特性，并且

基于所述测量获得针对所述基准模块的校准数据，所述校准数据提供关于传感器单元根据所述定标的相应检测部分相对于所述基准元件的特定定位的信息，并且

随后将所述基准模块附接至所述坐标测量机并且按以下方式将所述校准数据提供给所述坐标测量机的控制和处理单元：所述基准模块借助于所述传感器单元提供取向值的确定，所述取向值表示所述传感器单元相对于所述基准元件的取向，

其中，将所述基准元件附接至所述坐标测量机的第一结构性部件并将所述传感器单元附接至所述坐标测量机的第二结构性部件，其中，所述基准元件和所述传感器单元按基本无载方式被附接至所述坐标测量机。

2.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准模块被另外附接至所述坐标测量机的标准编码单元，该单元提供所述坐标测量机被设计为的坐标的测量。

3.根据权利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

能够借助于所述传感器单元确定的所述取向值表示所述传感器单元相对于所述基准元件在至少两个自由度上的取向。

4.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准模块提供运动信息的确定，该运动信息与相对机器运动有关，所述相对机器运动与所述坐标测量机被设计为的规则运动正交。

5.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述传感器单元是所述基准模块的一部分，并且适于检测所述基准元件的所述定标。

6.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

利用所述传感器单元在沿着所述基准元件的特定点处检测所述定标的部分，

将所检测的所述定标的部分分配给所述传感器单元的相对于所述基准元件的相应相对位置，以及

基于所述检测获得针对所述基准模块的所述校准数据。

7.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

借助于所述坐标测量机的机器标尺进行的机器坐标的确定由借助于所述基准模块和所述校准数据进行的从位置和/或取向值获得的坐标的确定替换。

8.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准元件被设计为伸长结构，其中，所述定标提供关于沿着所述结构的位置和关于相对于所述结构的取向的信息。

9.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准模块被附接至所述坐标测量机，使得所述基准模块提供

参照所述坐标测量机的至少一个轴线的所述取向值的确定，和/或

关于所述坐标测量机的至少一部分的结构变形的信息。

10.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

附接所述基准元件，使得所述基准元件至少大致平行于线性机器轴线(X、Y、Z)中的一个延伸。

11.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准元件被设计为提供旋转机器运动的位置信息。

12.根据权利要求11所述的方法，

其特征在于，

所述基准元件被设计为提供具有环状形状的旋转机器运动的位置信息。

13.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述基准元件的所述定标包括结构和/或图案，所述结构和/或图案在由所述传感器单元检测时，提供关于所述传感器单元相对于所述基准元件的绝对取向的信息。