[发明专利]具有激光解吸离子源和长使用寿命的激光系统的质谱仪

权利要求书

1.一种质谱仪，其包括借助于激光解吸使样品支架(13)上的样品电离的离子源，并且为此目的包括激光系统(1)和检测所产生的离子的质量分析仪，其中所述激光系统(1)包括以下子系统：

a)激光器(2)，其用于生成长波长光的激光束脉冲，

b)倍频晶体系统，其用于从所述长波长光的激光束脉冲生成短波长光的激光束脉冲，

c)反射镜系统，其用于借助激光束脉冲的角偏转对所述样品支架(13)上的激光光斑进行位置控制，

d)在所述反射镜系统后方的第一平场光学系统(3)，其用于将所述激光束脉冲的所述角偏转转变成平行偏移，其中所述第一平场光学系统位于所述倍频晶体系统前方，以及

e)在所述倍频晶体系统后方的第二平场光学系统(4)，其用于将所述平行偏移转变回所述短波长光的激光束脉冲的角偏转。

2.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述反射镜系统含有在与所述样品支架(13)的表面成直角的两个空间方向上偏转所述激光光斑的两个可移动的反射镜。

3.根据权利要求2所述的质谱仪，其特征在于，所述反射镜系统含有一个或两个检流计反射镜。

4.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，其进一步包括用于在所述样品支架(13)的表面上生成激光光斑图案的图案生成器。

5.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述质量分析仪是具有轴向或正交离子注入的飞行时间分析仪(TOF-MS)、离子回旋共振分析仪(ICR-MS)、射频电压离子阱(IT-MS)或Kingdon型静电离子阱中的一个。

6.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述倍频晶体系统具有两个倍频晶体。

7.根据权利要求6所述的质谱仪，其特征在于，第一倍频晶体从红外相干光产生可见绿色相干光，并且第二倍频晶体从所述可见绿色相干光和所述红外相干光产生紫外相干光。

8.一种质谱仪，其包括借助于激光解吸使样品支架(13)上的样品电离的离子源，并且为此目的包括激光系统(1)和检测所产生的离子的质量分析仪，其中所述激光系统(1)包括以下子系统：

a)激光器(2)，其用于生成长波长光的激光束脉冲，

b)倍频晶体系统，其用于从所述长波长光的激光束脉冲生成短波长光的激光束脉冲，所述倍频晶体系统具有两个倍频晶体，

c)反射镜系统，其用于借助激光束脉冲的角偏转对所述样品支架(13)上的激光光斑进行位置控制，

d)在所述反射镜系统后方的第一平场光学系统(3)，其用于将所述激光束脉冲的所述角偏转转变成平行偏移，其中反射镜系统和所述第一平场光学系统位于所述倍频晶体之间，以及

e)在所述倍频晶体系统后方的第二平场光学系统(4)，其用于将所述平行偏移转变回所述短波长光的激光束脉冲的角偏转。

9.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述激光器(2)产生红外激光脉冲。

10.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述离子源根据MALDI原理操作。

11.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，其进一步包括用于展开成角度偏转的所述短波长光的激光束脉冲的望远镜(9)。

12.根据权利要求11所述的质谱仪，其特征在于，其进一步包括用于将展开的激光聚焦在所述样品支架(13)上的激光光斑中的物镜(11)。

13.根据权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，平行于所述倍频晶体系统的轴线执行所述平行偏移。