[发明专利]非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：包括示波器、PC、三轴测试机构及校准PICC电路板；所述校准PICC电路板接在三轴测试机构上，校准PICC电路板接示波器，三轴测试机构由PC控制；所述示波器的数据输出接PC；所述校准 PICC电路板包括依次连接的感应线圈、波形调整电路及波形输出部分；所述三轴测试机构包括一支撑底座，所述支撑底座上沿纵向并列设有两皮带传动机构，两皮带传动机构的前端和后端分别经一传动轴连接，两皮带传动机构经一第一步进电机驱动；两皮带传动机构上分别设置有一沿皮带传动机构纵向移动的第一滑块和第二滑块，两皮带传动机构之间横向架设有一皮带导轨，所述皮带导轨的一端设置于所述第一滑块上，另一端穿设于所述第二滑块并且经一第二步进电机驱动；所述皮带导轨上设有一沿该皮带导轨横向移动的第三滑块，所述第三滑块上竖向设有一丝杆机构，并且所述丝杆机构经一第三步进电机驱动，所述丝杆机构上设有一沿丝杆机构竖向移动的连接机构；所述连接机构上安装有一L形转接板，所述L形转接板与一支撑杆的一端连接，所述支撑杆的另一端连接固定座，所述固定座夹持所述校准 PICC电路板；所述第一步进电机、第二步进电机和第三步进电机分别经一步进电机驱动器与一运动控制卡相连；所述运动控制卡与所述PC连接；所述电机驱动器及运动控制卡均由一电源模块供电；

所述非接卡射频性能自动测试系统进行自动测试的方法包括以下步骤：

步骤S1：首先，将三轴测试机构上电，由PC控制驱动三轴测试机构寻找原点；

步骤S2：将示波器、PC、三轴测试机构和校准 PICC电路板的位置放好，并且将校准PICC电路板连接到示波器上；

步骤S3：校准 PICC电路板的感应线圈感应非接卡信号，对非接卡进行测试，进行中心点定位，若有非接卡标志，测试中心点为该标志所示的位置；

步骤S4：在PC上选择测试卡类型，为“A卡”，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；

步骤S5：在PC上选择测试卡类型，为 “B卡”，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；

步骤S6：在PC上选择测试卡类型，为“场强”，在校准PICC电路板上将同轴线缆移至场强数据输出口，并且更改短接帽短接方式，然后点击开始，对控件中的25个点自动进行测试并计算，并且保存测试完的波形数据以及生成日志文件以供生成报告使用；

步骤S7：生成报告，在报告里面，没有通过的测试项目会以不同的颜色背景标记出来。

2.根据权利要求1所述的非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：定位中心点具体步骤如下：计算固定长度里面的脉冲个数，从而确定单个脉冲的电机转动的角度，其中电机转动的角度控制使用绝对坐标来确定。

3.根据权利要求1所述的非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：将第一步进电机和第二步进电机分别经步进电机驱动器控制，使得皮带传动机构和皮带导轨和丝杆机构的移动精度为0.1mm, 将第三步进电机经步进电机驱动器控制丝杆机构的移动精度为0.01mm。

4.根据权利要求1所述的非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：步骤S4-S6中的计算包括均值滤波、中值滤波、峰值检测及波形重采样。

5.根据权利要求1所述的非接卡射频性能自动测试系统，其特征在于：步骤S4、S5中抓取A卡或Ｂ卡波形使用的是欠幅触发，通过PC向示波器发送指令从而能够正确的抓取A卡或B卡的波形，从而进行测量；步骤S6中抓取场强波形首先需要将时基调至1us，然后读取场强的平均值，这个平均值即测量的参数。