[发明专利]一种光学自由曲面磨削成型方法在审
申请号: | 201610004135.4 | 申请日: | 2016-01-04 |
公开(公告)号: | CN105643395A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 代雷;崔庆龙;徐乐;隋永新;杨怀江;闫丰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | B24B13/02 | 分类号: | B24B13/02;B24B49/02;G06F17/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 130000 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 自由 曲面 磨削 成型 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光学加工领域,特别提供了一种光学自由曲面磨削成型方 法。
背景技术
将自由曲面引入光学系统中,可极大提高光学系统的成像质量和能量 的传输效率。现代光学系统中自由曲面的应用,可以针对系统的特殊像差 设计特定的自由曲面,补偿系统像差,提高系统成像质量。由于自由曲面 的多自由度特性,通常可以在保证光学系统成像质量的条件下,进一步减 少光学系统中的元件数量,减小光学系统的尺寸,因此被越发广泛的应用 于医疗,军事,航天等领域。
先进数控超精密制造技术加工自由曲面光学元件,可有效解决自由曲 面光学元件加工的技术瓶颈,但一般的自由曲面磨削成型方法所涉及使用 的数控磨削加工中心直接影响光学自由曲面的加工质量,提高加工精度往 往意味着更高的加工成本,例如引进超精密的液压或气浮加工中心,其对 使用环境,加工材料均有很大的限制。
因此,如何解决上述问题,成为人们亟待解决的问题。
发明内容
鉴于此,本发明的目的在于提供一种光学自由曲面磨削成型方法,以 解决以往在进行自由曲面加工时,需要使用超精密的数控中心,对于使用 环境和加工材料均由很大限制,而且加工成本高等问题。
本发明提供的技术方案,具体为,一种光学自由曲面磨削成型方法, 采用数控磨削加工中心与球形砂轮进行磨削成型,其特征在于:
S1:将设计的目标曲面采用点云矩阵进行描述,得点云设计矩阵 Mdesign;
S2:依据所述点云设计矩阵Mdesign对待加工曲面进行磨削工作,并对 磨削后所得曲面进行检测,得点云检测矩阵Mmeasure;
S3:将所述点云检测矩阵Mmeasure与所述点云设计矩阵Mdesign进行比较, 获得点云误差矩阵Merr;
S4:依据所述点云误差矩阵Merr对磨削后曲面进行补偿磨削加工。
优选,所述步骤S4包括:
S401:将所述点云误差矩阵Merr与阈值进行比较;
S402:当所述点云误差矩阵Merr大于阈值时,依据所述点云误差矩阵 Merr,计算获得点云修正矩阵Mdesign_1;
S403:依据所述点云修正矩阵Mdesign_1对磨削后曲面进行补偿磨削加 工,对补偿磨削后曲面进行点云检测,并将检测所得的点云检测矩阵与点 云设计矩阵Mdesign比较,再次获得点云误差矩阵Merr;
S404:重复步骤S401~S403,直至点云误差矩阵Merr小于等于阈值。
进一步优选,所述步骤S402中,依据所述点云误差矩阵Merr,计算获 得点云修正矩阵Mdesign_1的公式为:
Mdesign_1=Mdesign+Merr。
进一步优选,
步骤S2中检测磨削后所得曲面的方法为接触式检测;
步骤S403中检测补偿磨削后曲面的方法为接触式检测。
进一步优选,步骤S2和步骤S403中的检测点位置与目标曲面的点云 设计矩阵采样点位置相同。
进一步优选,所述点云设计矩阵Mdesign和所述点云检测矩阵Mmeasure中 均包括曲面在X、Y、Z三维坐标数据。
本发明提供的光学自由曲面磨削成型方法,采用点云的方式对于自由 曲面进行评价与测量,计算得到点云误差矩阵,以点云误差矩阵进行补偿 加工,以修正加工结果,使用该磨削成型方法进行磨削工作,可以有效提 高数控磨削中心的磨削精度,无需引用超精密的数控中心,降低加工成本, 有利于自由曲面光学元件的制造与应用。
本发明提供的光学自由曲面磨削成型方法,具有以下优点:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610004135.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:卧式研球机固定盘调心装置
- 下一篇:机床以及具备机器人的协作系统