[发明专利]一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置

说明书

本申请公开了一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置，用以实现AMOLED的自动检测分类，提高工作效率，以及提高AMOLED分类的准确性，避免人工检测误差以及对人眼的伤害。本申请提供的一种对AMOLED进行检测分类的方法，包括：将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配；根据匹配结果，对所述AMOLED进行分类。

技术领域

本申请涉及自动控制技术领域，尤其涉及一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置。

背景技术

有源矩阵有机发光二极体面板(AMOLED)被称为下一代显示技术，具有反应速度较快、对比度更高、视角较广等特点。电学检测作为AMOLED生产的后端工艺步骤，对保证出厂产品质量，分析前端工艺不良起着重要的作用。

目前所采用的点灯检测方法，主要依赖人工，在AMOLED点亮后通过人工进行观察，量产环境下人力需求量大，检测结果容易受到检测人员主观影响，另外，高强度的用眼也对视力造成损害，使得检测分类速度慢，准确率低。

发明内容

本申请实施例提供了一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置，用以实现AMOLED的自动检测分类，提高工作效率，以及提高AMOLED分类的准确性，避免人工检测误差以及对人眼的伤害。

本申请实施例提供的一种对有源矩阵有机发光二极体面板AMOLED进行检测分类的方法，包括：

将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配；

根据匹配结果，对所述AMOLED进行分类。

现有技术中是采用人工检测分类，而本申请实施例，通过对AMOLED采集待匹配图像；将所述待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，根据匹配结果，对AMOLED进行分类，实现了AMOLED的自动检测分类，提高了工作效率，以及分类的准确性，避免人工检测误差以及对人眼的伤害。

较佳地，所述对AMOLED采集得到的待匹配图像包括：将对AMOLED分别采集得到的红、绿、蓝、第一灰、第二灰、第三灰、黑七个待匹配图像；

所述预设的模板图像库包括优良模板图像库，该优良模板图像库包括红、绿、蓝、第一灰、第二灰、第三灰、黑七个优良模板图像子库；

所述将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，具体包括：分别将对AMOLED采集到的任一所述待匹配图像与相应颜色的优良模板图像子库进行匹配；

所述根据匹配结果，对AMOLED进行分类，具体包括：当所述七个待匹配图像，与相应颜色的所述七个优良模板图像子库分别全部匹配时，为该AMOLED设置用于表示该AMOLED为优良产品的标记。

较佳地，所述预设的模板图像库，还包括不良模板图像库，该不良模板图像库中包括n个不良子库，其中n为大于或等于1的正整数；

所述将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，还包括：当对AMOLED分别采集到的任一所述待匹配图像与相应颜色的优良模板图像子库不匹配时，将该待匹配图像与不良模板图像库中的不良子库进行匹配；

所述根据匹配结果，对AMOLED进行分类，还包括：当对AMOLED分别采集到的待匹配图像与一不良子库i匹配时，为该AMOLED设置标记i，其中i大于或等于1，且小于或等于n。

较佳地，所述根据匹配结果，对AMOLED进行分类，还包括：

当对AMOLED分别采集到的待匹配图像与任一不良子库均不匹配时，将该待匹配图像存入不良模板图像库，并确定该待匹配图像所属的不良子库；

该方法还包括：重新对该AMOLED进行检测分类。