[发明专利]正六面体磁梯度张量系统误差直接校正方法

权利要求书

1.一种正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1，将正六面体磁梯度张量系统放置于三轴无磁旋转平台上，在匀强磁场中旋转系统，记录各个磁通门传感器的输出值；

步骤S2，选定系统中某个磁通门磁力仪作为参考磁力仪，利用线性化校正方法求出参考磁力仪的单磁力仪系统误差校正参数；

步骤S3，根据系统中剩余的磁通门磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的对应关系，首先将剩余磁力仪的输出值转化成参考磁力仪输出值，然后利用参考磁力仪的单磁力仪误差校正方法，从而实现对剩余磁力仪的安装误差及单磁力仪误差的校正；

步骤S4，利用得到的参考磁力仪误差校正参数及剩余磁通门磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的对应关系即可实现正六面体磁梯度张量系统的误差校正。

2.如权利要求1所述的正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，所述的步骤S1中三轴无磁旋转平台，包括水平方位角调节、横滚角调节、俯仰角调节三部分，将其放置于匀强磁场中，可以实现三个方向的运动。

3.如权利要求1所述的正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，所述的步骤S2中参考磁力仪的单磁力仪系统误差校正参数公式如下：

其中，B^m为磁力仪的测量值，B^r为磁场的实际值，k_x、k_y、k_z为磁力仪三个测量轴的灵敏度系数，(O_x,O_y,O_z)^T为磁力仪的零点漂移误差，θ、ψ为磁力仪三个轴的非正交误差角，则对于系统中编号为i的磁力仪，其单磁力仪误差校正公式可以表示为下式：

式中，O_i为i号磁力仪的零点漂移误差，A_i为包含灵敏度系数和非正交误差角的参数矩阵。

4.如权利要求1所述的正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，所述的步骤S3中剩余的磁通门磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的对应关系如下：

式中，B_i为i号磁力仪的测量值，R_i为i号磁力仪与参考磁力仪之间的安装不对正误差矩阵，X_i为3×3矩阵，C_i为3×1矩阵，则该方程中一共包含12个未知数。

5.如权利要求1所述的正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，所述的步骤S4中正六面体磁梯度张量系统的误差校正如下，对于参考磁力仪：

对于剩余的磁力仪：

。

6.如权利要求1所述的正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，所述的步骤S1与步骤S4中正六面体磁梯度张量系统中的磁力仪为磁通门磁力仪。