[发明专利]磁场测量仪分辨率的检测方法和装置有效
申请号: | 201610006498.1 | 申请日: | 2016-01-04 |
公开(公告)号: | CN105548935B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 袁建生;上官云祺 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁场 测量仪 分辨率 检测 方法 装置 | ||
本发明公开了一种磁场测量仪分辨率的检测方法和装置,其中,该方法包括以下步骤:将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上;通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号;根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理,生成恒定磁场Bdi,以确定时变成分的峰值Br;若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率,则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。本发明实施例,能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理,获取恒定磁场以及时变成分的峰值,并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则,实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
技术领域
本发明涉及设备分辨率检测领域,特别涉及一种磁场测量仪分辨率的检测方法和装置。
背景技术
一些低噪声和高分辨率的恒定磁场测量仪器(例如,光泵磁传感器和超导量子干涉磁测量仪表)的内部噪声和分辨率可达皮特斯拉量级。然而,检测其是否真正可以达到这么高的分辨率,无论对一般用户还是仪器检测计量部门都很难实现。
因为很难建立或找到一个磁场值在仪器的量程范围内(一般为地磁场量级)且变化如此小的恒定磁场作为被测对象。考虑到在仪器测量时间段内可认为地磁场基本是恒定不变的,可以将地磁场作为被测磁场对象来检测测量仪器的灵敏度。但是,由于空间中各种磁场信号和场源产生的背景干扰磁场太大,在空旷的野外也会达到0.1nT量级,因此很难找到只存在地磁场的空间。如果没有高稳定性的恒定磁场环境或被测对象,则无法检测高灵敏度和高准确度的仪器。
相关技术中建立恒定磁场的一种方法是屏蔽掉背景干扰磁场来建立恒定磁场测量室。但是低频变化的磁场很难屏蔽掉,由于此类测量仪器的最小量程一般在10μT左右,与地磁场在同一个级别,因此在屏蔽时变干扰磁场的同时却不能将地磁场屏蔽掉,否则磁场会小于仪器的最小量程就不能实现测量与检测了。然而,这种仅屏蔽低频磁场而不屏蔽恒定地磁场分量的屏蔽就更难实现了,并且利用一般的材料很难实现理想的屏蔽。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此,本发明的一个目的在于提出一种磁场测量仪分辨率的检测方法,该方法能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理,获取恒定磁场以及时变成分的峰值,并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则,实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。
本发明的第二目的在于提出一种磁场测量仪分辨率的检测装置。
为实现上述目的,本发明第一方面实施例提出了一种磁场测量仪分辨率的检测方法,包括以下步骤:将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上,其中,所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率;通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号,其中,N为正整数;根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理,生成恒定磁场Bdi,以确定时变成分的峰值Br;判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率,若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率,则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
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