[发明专利]一种快速扇束几何相位衬度CT成像装置和方法在审

专利信息
申请号: 201610011968.3 申请日: 2016-01-05
公开(公告)号: CN105675631A 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 吴朝;颜天信;汪洪波;张猛 申请(专利权)人: 合肥泰禾光电科技股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230000 安徽省合肥市肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 几何 相位 ct 成像 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种快速扇束几何相位衬度CT成像装置,用于对物体进行三维相衬成像,其特征在 于,该装置沿光路依次包括X光源(S)、样品平台(P)、相位光栅(G1)、分析光栅(G2)以及探测 器(D),其中:

X光源(S),用于向被检测物体发射X光;

样品平台(P),用于固定物体;

相位光栅(G1),为π相移光栅或π/2相移光栅,用于调制入射X光的波前相位;

分析光栅(G2),为吸收光栅,与相位光栅(G1)自成像图像产生大周期莫尔条纹,便于低 分辨率探测器探测物体信息;

探测器(D),用于记录通过物体和光学系统的X光强度。

2.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)、分析光栅(G2)的占空比均为0.5。

3.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)、分析光栅(G2)以及探测器(D)均为柱面光学元件。

4.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)的曲率半径为R1,位于以X光源(S)为原点、R1为半径的圆弧上,分析光栅(G2)的曲率半 径为R2,且位于以X光源(S)为原点、R2为半径的圆弧上。

5.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)和分析光栅(G2)的周期小于10μm。

6.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,探测器(D) 像素尺寸范围为20μm~100μm。

7.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)和分析光栅(G2)周期满足关系,其中,d1为相位光栅(G1)周期,d2为分析 光栅(G2)周期,R1和R2分别为X光源(S)到相位光栅(G1)以及相位光栅(G1)到分析光栅(G2)的 距离,当相位光栅(G1)产生π/2相移时,η=1;当相位光栅(G1)产生π相移时,η=2。

8.根据权利要求1所述的快速扇束几何相位衬度CT成像装置,其特征在于,相位光栅 (G1)和分析光栅(G2)间距R2满足Talbot距离N=1,3,5,7...

N为Talbot自成像级次,d1为相位光栅(G1)周期,d2为分析光栅(G2)周期,λ为X光波长。

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