[发明专利]一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法及电路

权利要求书

1.一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法，其特征在于：

根据开关控制信号的控制将LVT、RVT、HVT三个反相器链分别连成环路，得到三个振荡环并产生振荡时钟；

所述三个振荡环产生的振荡时钟分别在固定时长内对振荡时钟进行计数，得到计数值；根据所得的计数值和预设的DVFS映射表格的内容进行判断,得到当前芯片最适合的电压和频率对应关系；根据该对应关系对当前电压及当前最高时钟频率进行调整；

同时,所述三个振荡环产生的振荡时钟根据使用的需求作第一级多路选择，从而选择其中一路作为芯片的备选工作时钟输出，需要高频率时选通LVT的振荡时钟,需要低频率时选通HVT的振荡时钟，需要中间频率时则选通RVT的振荡时钟；

所述备选工作时钟输出后,再和芯片的晶体振荡电路时钟作第二级多路选择，其中，当三个振荡环工作后,选通备选工作时钟，反之，当三个振荡环不工作时，则选通晶体振荡电路。

2.根据权利要求1所述的一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法，其特征在于：所述根据所得的计数值和预设的DVFS映射表格的内容进行判断的过程是:

得到LVT、RVT、HVT三个振荡环的计数值后,在预设的DVFS映射表中的LVT、RVT、HVT对应项中找到最接近的条件项,在LVT、RVT、HVT三个匹配条件项中，将电压值中的最高值作为芯片最后调整的电压值，将最高频率的最低值作为芯片最后调整的最高频率。

3.根据权利要求1所述的一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法，其特征在于：在选通备选工作时钟时同时将晶体振荡电路关闭。

4.根据权利要求1所述的一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法，其特征在于：所述DVFS映射表格产生方法如下：

所述LVT、RVT、HVT三个反相器链分别由LVT、RVT、HVT标准库单元构成,且每个链上的反相器个数为奇数个；根据LVT、RVT、HVT三个标准库单元中反相器单元的延迟时间和反相器链上的反相器个数进行评估，将每个反相器延迟时间乘以反相器个数所得的乘积就是反相器振荡环的振荡周期时间，再用在固定时间段的计数时间除以振荡环的振荡周期，以此得到LVT、RVT、HVT三种基本单元在各种不同条件下的期望计数值；

然后再基于过去相同工艺下的振荡环进行大量实验，得到每个振荡环的计数值所对应的最高频率和电压；这个对应关系在不断的芯片生产和测试过程中不断的叠代优化，不断逼近真实的映射关系，再通过映射表格形式记录并存储下来。