[发明专利]定量分析粉末混合物成分的方法

说明书

本发明提供定量分析粉末混合物成分的方法，包括以下步骤：提供一待测粉末，获得所述待测粉末的X光衍射谱，所述待测粉末由两种或三种标样粉末混合组成；分别提供所述标样粉末的X光衍射谱；通过主成分分析方法分析所述待测粉末及各种标样粉末的X光衍射谱，分别得到所述待测粉末及各种标样粉末的得分值；根据所述待测粉末及标样粉末的得分值建立一得分图，将所述标样粉末在得分图中的得分值点进行直线连接获得一成分分析线；找到所述待测粉末的得分值在所述成分分析线中的位置，并根据吸收系数修正的杠杆定律公式计算所述待测粉末中各种标样粉末的质量百分比。本发明进一步包括一种定量分析所述待测粉末中各种纯相粉末的质量百分比的方法。

技术领域

本发明涉及一种定量分析粉末混合物成分的方法。

背景技术

随着现代材料科学的发展，人们对各类晶体和非晶体材料的研究愈发深入，对定量分析材料物相成分的要求日益迫切。X射线衍射技术作为一种经典的表征手段，被广泛应用于这类研究中。X射线因在结晶物相内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶物相结构相对应的特有的衍射现象。

目前，人们常用的一种X射线衍射定量分析手段是标样法，该标样法用来定量分析多晶粉末，其分析过程往往只利用到最强峰或三强峰的衍射强度信息，不能精确地定量分析出粉末混合物的成分，更无法定量分析具有相互重叠峰位的粉末混合物的成分。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种能够精确地对粉末混合物中各种成分进行定量分析的方法。

一种定量分析粉末混合物成分的方法，包括以下步骤：

提供一待测粉末，所述待测粉末由两种或三种标样粉末混合组成，获得所述待测粉末的X光衍射谱；

分别提供所述标样粉末的X光衍射谱；

通过主成分分析方法分析所述待测粉末及各种标样粉末的X光衍射谱，分别得到所述待测粉末及各种标样粉末的得分值；

根据所述待测粉末及标样粉末的得分值建立一得分图，将所述标样粉末在得分图中的得分值点进行直线连接获得一成分分析线；

找到所述待测粉末的得分值在所述成分分析线中的位置，并根据吸收系数修正的杠杆定律公式计算所述待测粉末中各种标样粉末的质量百分比。

一种定量分析粉末混合物成分的方法，其包括以下步骤：

提供一待测粉末，该待测粉末由两种或三种标样粉末混合组成，获得所述待测粉末的X光衍射谱；

分别提供所述标样粉末中各种纯相粉末的X光衍射谱；

通过主成分分析方法分析所述待测粉末及各种纯相粉末的X光衍射谱，分别得到所述待测粉末及各种纯相粉末的得分值；

根据所述待测粉末及纯相粉末的得分值建立一得分图，将所述纯相粉末在得分图中的得分值点进行直线连接获得一成分分析线；

找到所述待测粉末的得分值在所述成分分析线中的位置，并根据吸收系数修正的杠杆定律公式计算所述待测粉末中各种纯相粉末的质量百分比。

本发明提供的一种定量分析粉末混合物成分的方法，利用主成分分析法得到标样粉末及待测粉末的得分值，并根据得分值建立一得分图，参考相图的分析方法确定待测粉末的得分值在该得分图中的位置，从而根据吸收系数修正的杠杆定律计算出待测粉末中各种标样粉末的质量百分比。该定量分析粉末混合物成分的方法实现了对具有良好衍射峰的粉末及具有复杂重叠衍射峰的粉末的定量分析；且该定量分析方法简便、精确，可以快速完成对粉末混合物中各种成分的定量分析，在X光衍射定量分析粉末混合物成分方面具有广泛的应用前景；该定量分析粉末混合物的方法既能够测得待测粉末中各种混合粉末的质量百分比，也能够进一步测得待测粉末中各种纯相粉末的质量百分比。

附图说明