[发明专利]一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置有效
申请号: | 201610016286.1 | 申请日: | 2016-01-11 |
公开(公告)号: | CN105632383B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 韩约白;金鑫鑫;白晓鹏;包珊珊;赵普查;赵锦;高弘玮;张明洋;杨涛 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 电路 方法 显示 面板 显示装置 | ||
1.一种测试电路,其特征在于,包括:三个信号输入端、两个控制信号端、六个开关晶体管、多个扫描信号输入端、多个发光信号输入端、多个第一控制开关、多个第二控制开关、多个第三控制开关、多个第四控制开关以及多个第五控制开关;其中,每个控制信号端对应三个所述开关晶体管;每个所述信号输入端对应两个所述开关晶体管;
各所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连,源极与对应的所述信号输入端相连,漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号;各所述开关晶体管用于在对应的所述控制信号端的控制下,将对应的所述信号输入端输入的信号通过输出端输出;
三个所述信号输入端分别为第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端;两个所述控制信号端分别为第一控制信号端和第二控制信号端;每个所述信号输入端分别对应一个第一开关晶体管和一个第二开关晶体管;所述第一开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连,源极与对应的所述信号输入端相连,漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号;所述第二开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连,源极与对应的所述信号输入端相连,漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号;
每个所述扫描信号输入端对应两个所述第一控制开关,每个所述发光信号输入端对应一个所述第二控制开关;
各所述第一控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连,输入端与对应的所述扫描信号输入端相连;各所述第一控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下,将对应的所述扫描信号输入端输入的信号通过输出端输出;
各所述第二控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连,输入端与对应的所述发光信号输入端相连;各所述第二控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下,将对应的所述发光信号输入端输入的信号通过输出端输出;
各所述第三控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连,输入端与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连;各所述第三控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下,将对应的所述第一信号输入端输入的信号通过输出端输出;
各所述第四控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连,输入端与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连;各所述第四控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下,将对应的所述第二信号输入端输入的信号通过输出端输出;
各所述第五控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连,输入端与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连;各所述第五控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下,将对应的所述第三信号输入端输入的信号通过输出端输出。
2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第一控制开关,具体包括:第三开关晶体管;
所述第三开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连,源极与对应的所述扫描信号输入端相连,漏极用于将对应的所述扫描信号输入端输入的信号输出。
3.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第二控制开关,具体包括:第四开关晶体管;
所述第四开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连,源极与对应的所述发光信号输入端相连,漏极用于将对应的所述发光信号输入端输入的信号输出。
4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第三控制开关,具体包括:第五开关晶体管;
所述第五开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连,源极与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连,漏极用于将所述第一信号输入端输入的信号输出。
5.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第四控制开关,具体包括:第六开关晶体管;
所述第六开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连,源极与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连,漏极用于将所述第二信号输入端输入的信号输出。
6.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第五控制开关,具体包括:第七开关晶体管;
所述第七开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连,源极与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连,漏极用于将所述第三信号输入端输入的信号输出。
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