[发明专利]一种块内频数检测方法在审
申请号: | 201610017715.7 | 申请日: | 2016-01-11 |
公开(公告)号: | CN105634728A | 公开(公告)日: | 2016-06-01 |
发明(设计)人: | 罗影;张文科;尹一桦;徐远泽 | 申请(专利权)人: | 成都卫士通信息产业股份有限公司 |
主分类号: | H04L9/06 | 分类号: | H04L9/06 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 辜强;詹永斌 |
地址: | 610041 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频数 检测 方法 | ||
1.一种块内频数检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
(1)将待检序列按长度m划分为N个非重叠的子序列,多余比特舍弃;
(2)对每个子序列利用查表法得出子序列中比特1的个数Ni;
(3)根据公式
(4)计算P=igamc(N/2,V/2),如果P不小于显著水平α,则认为待检序列通过检测。
2.根据权利要求1所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述查表法为:对每个 子序列,从头至尾依序取连续w个比特,并利用查表直接得出这连续w个比特中比特1的个 数,通过反复多次查表得到每个子序列中比特1的个数Ni。
3.根据权利要求2所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述w的值取8。
4.根据权利要求3所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,利用查表法计算每个子 序列中比特1的个数时,每次处理连续两个子序列共25字节。
5.一种块内频数检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
(1)将待检序列按长度m划分为N个非重叠的子序列,多余比特舍弃;
(2)对每个子序列利用查表法得出子序列中比特1的个数Ni;
(3)根据公式
(4)计算P=igamc(N/2,V/2),如果P不小于显著水平α,则认为待检序列通过检测。
6.根据权利要求5所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述查表法为:对每个 子序列,从头至尾依序取连续w个比特,并利用查表直接得出这连续w个比特中比特1的个 数,通过反复多次查表得到每个子序列中比特1的个数Ni。
7.根据权利要求6所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述w的值取8。
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