[发明专利]一种块内频数检测方法在审

专利信息
申请号: 201610017715.7 申请日: 2016-01-11
公开(公告)号: CN105634728A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 罗影;张文科;尹一桦;徐远泽 申请(专利权)人: 成都卫士通信息产业股份有限公司
主分类号: H04L9/06 分类号: H04L9/06
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 辜强;詹永斌
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 频数 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种块内频数检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

(1)将待检序列按长度m划分为N个非重叠的子序列,多余比特舍弃;

(2)对每个子序列利用查表法得出子序列中比特1的个数Ni

(3)根据公式V=4mΣi=1N(Ni/m-1/2)2,]]>计算统计量V;

(4)计算P=igamc(N/2,V/2),如果P不小于显著水平α,则认为待检序列通过检测。

2.根据权利要求1所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述查表法为:对每个 子序列,从头至尾依序取连续w个比特,并利用查表直接得出这连续w个比特中比特1的个 数,通过反复多次查表得到每个子序列中比特1的个数Ni

3.根据权利要求2所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述w的值取8。

4.根据权利要求3所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,利用查表法计算每个子 序列中比特1的个数时,每次处理连续两个子序列共25字节。

5.一种块内频数检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

(1)将待检序列按长度m划分为N个非重叠的子序列,多余比特舍弃;

(2)对每个子序列利用查表法得出子序列中比特1的个数Ni

(3)根据公式V=4mΣi=1N(Ni-m/2)2,]]>计算统计量V;

(4)计算P=igamc(N/2,V/2),如果P不小于显著水平α,则认为待检序列通过检测。

6.根据权利要求5所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述查表法为:对每个 子序列,从头至尾依序取连续w个比特,并利用查表直接得出这连续w个比特中比特1的个 数,通过反复多次查表得到每个子序列中比特1的个数Ni

7.根据权利要求6所述的一种块内频数检测方法,其特征在于,所述w的值取8。

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