[发明专利]集成电容器的方法和设备在审
申请号: | 201610017973.5 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN105789187A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 单建安;伍荣翔;方向明 | 申请(专利权)人: | 香港科技大学 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64;H01L21/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾丽波;李荣胜 |
地址: | 中国香港*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成 电容器 方法 设备 | ||
1.一种设备,包括:
衬底,其包括电介质层;
第一电极,其包括形成在所述衬底的第一沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第一电极与所述衬底之间;以及
第二电极,其包括形成在所述衬底的第二沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第二电极与所述衬底之间。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述衬底传导电极间电流。
3.根据权利要求1所述的设备,还包括:
掺杂区,其中所述第一沟槽和所述第二沟槽位于所述掺杂区内。
4.根据权利要求1所述的设备,还包括:
连接至所述第一电极的第一组过孔,以及连接至所述第二电极 的第二组过孔。
5.根据权利要求4所述的设备,其中所述衬底包括彼此相对的 第一表面和第二表面,并且其中所述第一沟槽和所述第二沟槽形成在 所述衬底的第一表面上,并通过所述第一组过孔和所述第二组过孔连 接至所述衬底的第二表面。
6.一种设备,包括:
衬底,其包括电介质层;
第一电极,其包括形成在所述衬底的第一沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第一电极与所述衬底之间;以及
第二电极,其包括形成在所述衬底的第二沟槽中的导电材料, 并且所述导电材料与所述衬底形成电接触。
7.根据权利要求6所述的设备,其中所述第一沟槽和所述第二 沟槽形成在所述衬底的第一表面,并且其中所述第一沟槽和所述第二 沟槽通过第一组过孔和第二组过孔连接至所述衬底的第二表面。
8.根据权利要求6所述的设备,其中所述第一组过孔连接至所 述第一电极,并且所述第二组过孔连接至所述第二电极。
9.根据权利要求6所述的设备,其中所述衬底传导电极间电流, 所述衬底还包括掺杂区,其中所述第一沟槽和所述第二沟槽位于所述 掺杂区内。
10.一种方法,包括步骤:
在半导体衬底上形成针对电极的沟槽;
在所述半导体衬底上形成电介质层;
在所述半导体衬底上形成包括导电材料的导电层;以及
去除所述导电材料的一部分。
11.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行湿法刻蚀。
12.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行等离子体刻蚀。
13.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行电化学刻蚀。
14.根据权利要求10所述的方法,还包括步骤:
在所述沟槽附近对所述半导体衬底进行掺杂。
15.根据权利要求10所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括对所述电介质层进行热氧化。
16.根据权利要求10所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括:施加化学气相沉积以形成所述电介质层。
17.一种用于制造集成电容器的方法,包括步骤:
在半导体衬底的第一侧形成针对电极的沟槽;
在所述半导体衬底的第二侧形成用于电连接的其他沟槽;
在所述半导体衬底上形成电介质层;
在所述半导体衬底上形成包括导电材料的导电层;以及
去除所述导电材料的一部分。
18.根据权利要求17所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 利用刻蚀形成所述沟槽。
19.根据权利要求17所述的方法,还包括步骤:在所述沟槽附 近对所述半导体衬底进行掺杂。
20.根据权利要求17所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括:利用蒸发工艺形成所述电介质层。
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