[发明专利]集成电容器的方法和设备在审

专利信息
申请号: 201610017973.5 申请日: 2016-01-12
公开(公告)号: CN105789187A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 单建安;伍荣翔;方向明 申请(专利权)人: 香港科技大学
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L21/02
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾丽波;李荣胜
地址: 中国香港*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要:
搜索关键词: 集成 电容器 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种设备,包括:

衬底,其包括电介质层;

第一电极,其包括形成在所述衬底的第一沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第一电极与所述衬底之间;以及

第二电极,其包括形成在所述衬底的第二沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第二电极与所述衬底之间。

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述衬底传导电极间电流。

3.根据权利要求1所述的设备,还包括:

掺杂区,其中所述第一沟槽和所述第二沟槽位于所述掺杂区内。

4.根据权利要求1所述的设备,还包括:

连接至所述第一电极的第一组过孔,以及连接至所述第二电极 的第二组过孔。

5.根据权利要求4所述的设备,其中所述衬底包括彼此相对的 第一表面和第二表面,并且其中所述第一沟槽和所述第二沟槽形成在 所述衬底的第一表面上,并通过所述第一组过孔和所述第二组过孔连 接至所述衬底的第二表面。

6.一种设备,包括:

衬底,其包括电介质层;

第一电极,其包括形成在所述衬底的第一沟槽中的导电材料, 其中所述电介质层位于所述第一电极与所述衬底之间;以及

第二电极,其包括形成在所述衬底的第二沟槽中的导电材料, 并且所述导电材料与所述衬底形成电接触。

7.根据权利要求6所述的设备,其中所述第一沟槽和所述第二 沟槽形成在所述衬底的第一表面,并且其中所述第一沟槽和所述第二 沟槽通过第一组过孔和第二组过孔连接至所述衬底的第二表面。

8.根据权利要求6所述的设备,其中所述第一组过孔连接至所 述第一电极,并且所述第二组过孔连接至所述第二电极。

9.根据权利要求6所述的设备,其中所述衬底传导电极间电流, 所述衬底还包括掺杂区,其中所述第一沟槽和所述第二沟槽位于所述 掺杂区内。

10.一种方法,包括步骤:

在半导体衬底上形成针对电极的沟槽;

在所述半导体衬底上形成电介质层;

在所述半导体衬底上形成包括导电材料的导电层;以及

去除所述导电材料的一部分。

11.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行湿法刻蚀。

12.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行等离子体刻蚀。

13.根据权利要求10所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 对所述沟槽进行电化学刻蚀。

14.根据权利要求10所述的方法,还包括步骤:

在所述沟槽附近对所述半导体衬底进行掺杂。

15.根据权利要求10所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括对所述电介质层进行热氧化。

16.根据权利要求10所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括:施加化学气相沉积以形成所述电介质层。

17.一种用于制造集成电容器的方法,包括步骤:

在半导体衬底的第一侧形成针对电极的沟槽;

在所述半导体衬底的第二侧形成用于电连接的其他沟槽;

在所述半导体衬底上形成电介质层;

在所述半导体衬底上形成包括导电材料的导电层;以及

去除所述导电材料的一部分。

18.根据权利要求17所述的方法,其中形成沟槽的步骤包括: 利用刻蚀形成所述沟槽。

19.根据权利要求17所述的方法,还包括步骤:在所述沟槽附 近对所述半导体衬底进行掺杂。

20.根据权利要求17所述的方法,其中所述形成电介质层的步 骤包括:利用蒸发工艺形成所述电介质层。

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