[发明专利]一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统

权利要求书

1.一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，包括：光纤 激光器(101)、光纤组件A(102)、光纤I(103)、真空密封接头(104)、O 型圈(105)、螺母(106)、待测样品(107)、光纤II(108)、磁输运样品室(109)、 光纤组件B(110)、光谱仪(111)和测试分析计算机(112)，其特征在于：

所述的光纤组件A(102)两端通过光纤接头分别与光纤激光器(101)和 光纤I(103)连接；所述的光纤I(103)左端通过光纤接头与光纤组件A(102) 连接，右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样 品(107)；所述的光纤II(108)左端通过光纤接头与光纤组件B(110)连接， 右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样品(107)； 真空密封接头(104)为圆形，内有剥去外皮仅留中心石英部分的光纤I(103) 和光纤II(108)穿过，当中采用密封胶固定和密封；真空密封接头(104)穿 过磁输运样品室(109)，一部分位于磁输运样品室(109)外并有沟槽，O型 圈(105)套进真空密封接头(104)内并处于真空密封接头(104)沟槽里，O 型圈(105)露出沟槽的部分贴于磁输运样品室(109)外壁，真空密封接头(104) 处于磁输运样品室(109)之内的部分上有螺纹，螺丝(106)拧进螺纹并贴紧 磁输运样品室(109)外壁，起固定和真空密封作用；待测样品(107)平放于 磁输运样品室(109)底端超导线圈内；调整待测样品(107)位置以及光纤I (103)、光纤II(108)下端对准待测样品(107)的角度，使得光纤I(103) 发出的激光入射到待测样品(107)上，所激发的光致发光被光纤II(108)所 接收；光纤组件B(110)两端通过光纤接头分别与光谱仪(111)和光纤II(108) 连接；光谱仪(111)连接到测试分析计算机(112)，从而记录、分析得到的 光谱信息。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱 的系统，其特征在于：所述的光纤激光器(101)所激发的激光波长短于待测 样品(107)的被激发光的波长。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱 的系统，其特征在于：光纤组件A(102)、光纤I(103)、光纤II(108)和光 纤组件B(110)芯径不小于1微米，传输光效率高于百分之五十。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱 的系统，其特征在于：所述的光纤I(103)下端为便于发射平行激光的平端面。

5.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱 的系统，其特征在于：所述的光纤II(108)下端为便于收集光致发光信号的 半球面。

6.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光 谱的系统，其特征在于：光谱仪(111)所测光波长范围满足光致发光包括光 致发光信号波长范围；光谱仪(111)之内放置有与光纤激光器(101)所激发 的激光波长相对应的滤波片。