[发明专利]应用功耗测量方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种应用功耗测量方法及装置。

背景技术

计算机上可以运行多个应用，为了对计算机上运行的多个应用进行管理， 需要对计算机上运行的每个应用的整体功耗进行测量。

应用的整体功耗由应用的静态功耗和应用的动态功耗组成。相关技术中， 使用线性函数模型对应用的动态功耗与计算机使用状态值的关系进行描述。首 先，在应用运行的过程中，可以采集不同时刻应用的动态功耗以及计算机的使 用状态值，然后，以计算机的使用状态值为变量，以应用的动态功耗为函数值， 建立线性函数模型。当需要测量该应用在某一时刻的整体功耗时，可以获取该 应用的静态功耗，然后获取在该时刻计算机的使用状态值，将该时刻计算机的 使用状态值代入建立好的线性函数模型，得出该时刻应用的动态功耗，并将该 应用的静态功耗和动态功耗之和作为该应用的整体功耗。

由于线性函数模型的函数值具有线性变化的特征，但是某一些应用的动态 功耗不具有线性变化的特征，使用线性函数模型无法准确的测量不具有线性变 化特征的动态功耗，进而无法准确的测量应用的整体功耗，因此，应用功耗测 量的准确性较差。

发明内容

为了解决应用功耗测量的准确性较差的问题，本发明提供了一种应用功耗 测量方法及装置。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种应用功耗测量方法，所述方法包括：

获取目标应用运行时的至少两个初始功耗参数集合，每个初始功耗参数集 合包括至少一个功耗参数子集，每个功耗参数子集包括：一组变量参数以及所 述一组变量参数对应的动态功耗，所述一组变量参数包括：中央处理器CPU利 用率、最末级缓存LLC缺失率和磁盘访问率，每个初始功耗参数集合包括：所 述目标应用运行过程中，不同的CPU利用率、不同的LLC缺失率以及不同的磁 盘访问率；

根据所述至少两个初始功耗参数集合，确定目标功耗参数集合，所述目标 功耗参数集合为所述至少两个初始功耗参数集合的均值；

根据所述目标功耗参数集合，建立三维查找表LUT，所述三维LUT用于记 录所述目标应用运行时，每组变量参数与动态功耗的对应关系；

获取所述目标应用运行时的一组目标变量参数；

在所述三维LUT中查找所述一组目标变量参数对应的目标动态功耗；

根据所述目标动态功耗确定所述目标应用的整体功耗。

可选的，所述目标应用运行在计算机上，在所述获取目标应用运行时的至 少两个初始功耗参数集合之前，所述方法还包括：

在所述计算机上未运行任何应用时，获取所述计算机的静态功耗；

根据所述目标动态功耗确定所述目标应用的整体功耗，包括：

获取所述计算机上运行的应用的个数；

根据所述计算机的静态功耗、所述计算机上运行的应用的个数以及静态功 耗计算公式，确定所述目标应用运行时的静态功耗，所述静态功耗计算公式为：

P_{App(i)_static}＝P_{Host_static}/N_App；

其中，所述P_{App(i)_static}为所述目标应用运行时的静态功耗，所述P_{Host_static}为 所述计算机的静态功耗，所述N_App为所述计算机上运行的应用的个数；

根据所述目标应用运行时的静态功耗、所述目标动态功耗和整体功耗计算 公式，确定所述目标应用的整体功耗，所述整体功耗计算公式为：

P_App(i)＝P_{App(i)_static}+P_{App(i)_dynamic}；

其中，所述P_App(i)为所述目标应用的整体功耗，所述P_{App(i)_dynamic}为所述 对应的动态功耗，所述P_{App(i)_static}为所述目标应用的静态功耗。

可选的，根据所述目标功耗参数集合，建立三维LUT，包括：

根据所述目标功耗参数集合，确定CPU利用率的变化范围、所述LLC缺失 率的变化范围和所述磁盘访问率的变化范围；