[发明专利]一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质量提升方法

权利要求书

1.一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质量提升方法，其特征在于， 所述方法包括如下步骤：

步骤一、一体化获取光学系统的波前畸变信息和光轴抖动测量信息；

所述波前畸变信息为{a₁,…,a_k}，其中a_k为Zernike多项式系数；波前表示 为z_k(x,y)为Zernike多项式第k项基元波面，x,y为瞳 面坐标；光轴抖动测量信息为{(jx₁,jy₁)，…,(jx_i,jy_i)}，其中(jx_i,jy_i)表示 曝光时间内第i个采样点光轴相对于曝光起始时刻的像面偏移量；

步骤二、利用波前畸变测量数据，计算波前畸变点扩散函数PSF1；

其中，首先对应不同的相位差分布，计算得到不同的单色点扩散函数 PSF_λ(u,v)；

其中，A(x,y)为瞳面光波振幅， 根据光瞳形状确定，有效通光位置取值为1，其余取0；f 为焦距，λ为单色光波长，(u,v)为像面坐标，(x,y)为瞳面坐标；

然后，对单色点扩散函数进行加权平均，即为白光点扩散函数PSF1；

PSF1(u,v)=∫PSFλ(u,v)ωλdλ∫ωλdλ]]>

其中，ω_λ为太阳光谱分布、目标光谱反射率、光电探测器光谱响应的乘积；

步骤三、根据曝光时间内测量的光轴抖动信息计算点扩散函数PSF2；

其中，N表示曝光时间内采样点的总数，n(u,v)表示落入 像面(u,v)位置的采样点数；根据曝光时间内测量的光轴抖动信息计算点扩散函 数PSF2；

其中，N表示曝光时间内采样点的总数，n(u,v)表示 落入像面(u,v)位置的采样点数；(u,v)根据测量的光轴抖动信息进行计算， u＝ROUNDDOWN(jx_i)、v＝ROUNDDOWN(jy_i)，其中ROUNDDOWN()表示 向下取整；

步骤四、综合波前畸变点扩散函数PSF1和光轴抖动点扩散函数PSF2获取成 像系统的总退化PSF；

将步骤二和步骤三获取的基于波前测量数据的点扩散函数PSF1和基于光轴 抖动测量数据的点扩散函数PSF2，二者卷积后获取成像系统的总退化PSF；

步骤五、根据所述总退化PSF，进行非盲图像复原处理。

2.根据权利要求1所述的一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质 量提升方法，其特征在于，所述步骤五中利用所述反卷积、维纳滤波或RL算法 进行图像恢复。