[发明专利]等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置

说明书

本发明提供简便且分析灵敏度高的等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置。本发明的等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述工序：浓缩工序，在试样的存在下，通过向一对电极施加电压，在至少一个电极的附近将所述试样中的分析对象物进行浓缩；以及检测工序，通过对所述一对电极施加电压而产生等离子体，对在所述等离子体的作用下产生的所述分析对象物的发光进行检测。

【技术领域】

本发明涉及等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置。

【背景技术】

作为对试样中的分析对象物进行分析的方法，已知有利用等离子体发光的分析方法。关于上述分析方法，在专利文献1中公开了使用高频等离子体质量分析装置对试样进行分析的方法。另外，在专利文献2和3中公开了使用具有狭小部的等离子体发生装置使试样中产生等离子体、通过分析等离子体发光而对试样进行分析的方法。此外，在专利文献4和5中公开了使液体试样中产生等离子体、通过分析等离子体发光而对试样进行分析的方法。

但是，在专利文献1的方法中，存在如下问题：若不进行适当的预处理，则会由于其他物质的混入而使分析结果发生改变。另外，在专利文献2和3的方法中，在使用具有夹杂物的试样的情况下、以及在进行使试样的液量减少的预处理时混入了异物等的情况下，存在上述夹杂物和上述异物堵塞于上述狭小部而无法进行测定的问题。此外，在专利文献4和5的方法中还存在分析灵敏度低的问题。

【现有技术文献】

【专利文献】

专利文献1：日本特开2009-128315号公报

专利文献2：日本特开2011-180045号公报

专利文献3：日本特开2012-185064号公报

专利文献4：国际公开第2006/059808号

专利文献5：国际公开第2011/099247号

【发明内容】

【发明所要解决的课题】

因此，本发明的目的在于提供一种简便且分析灵敏度高的等离子体分光分析方法。

【用于解决课题的手段】

为了解决上述本发明的课题，本发明的等离子体分光分析方法(以下也称为“分析方法”)的特征在于，包括下述工序：

浓缩工序，在试样的存在下，通过向一对电极施加电压，在至少一个电极的附近将上述试样中的分析对象物进行浓缩；以及

检测工序，通过对上述一对电极施加电压而产生等离子体，对在上述等离子体的作用下产生的上述分析对象物的发光进行检测。

本发明的等离子体分光分析装置(以下也称为“分析装置”)的特征在于，

其包含一对电极、容器和受光部；

上述容器包含透光部；

上述一对电极配置在上述容器内；

在上述容器的外部配置能够透过上述透光部接受上述分析对象物的发光的受光部，该发光是通过对上述一对电极施加电压而产生的发光；

该等离子体分光分析装置用于上述本发明的等离子体分光分析方法。

【发明的效果】

本发明的等离子体分光分析方法简便且分析灵敏度高。因此，根据本发明的等离子体分光分析方法，例如能够在不对试样进行预处理的情况下简便且高灵敏度地对试样进行分析。

【附图说明】